in the USA tostudy the coating stru

in the USA to
study the coating structure. Images of samples were taken with an optical microscope and by scanning electron microscopy (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในสหรัฐอเมริกาเพื่อศึกษาโครงสร้างเคลือบ ภาพตัวอย่างที่ถ่าย ด้วยกล้องจุลทรรศน์เลนส์ และ โดยการสแกนอิเล็กตรอน (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในประเทศสหรัฐอเมริกาเพื่อ
ศึกษาโครงสร้างการเคลือบ ภาพของตัวอย่างที่ถูกถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์แสงและโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในสหรัฐอเมริกาศึกษาโครงสร้างเคลือบ ภาพตัวอย่างที่ถ่ายด้วยกล้องจุลทรรศน์แบบแสงและกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM )