XRD analysis: X-ray diffraction ana

XRD analysis: X-ray diffraction analyses (Fig. 3) showed that the A-PI-NFB has two reflection peaks, one strong sharp peak at 14.5º (2θ) and the other middle strong peak at 24.1º (2θ).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวิเคราะห์ XRD: วิเคราะห์การเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (Fig. 3) แสดงให้เห็นว่า A-PI-NFB มีสองสะท้อนยอด สูงสุดคมแข็งแรงหนึ่งใน 14.5º (2θ) และอื่น ๆ กลางแข็งแรงสูงสุดที่ 24.1º (2θ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ XRD: X-ray diffraction วิเคราะห์ (รูปที่ 3.) พบว่า-PI-NFB มีสองยอดสะท้อนหนึ่งที่คมชัดสูงสุดแข็งแกร่งที่14.5º (2θ) และยอดเขาอื่น ๆ ที่แข็งแกร่งกลางที่24.1º (2θ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ XRD : การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( รูปที่ 3 ) พบว่า a-pi-nfb สองสะท้อนยอดหนึ่งแรงคมชัดสูงสุดในระดับº ( 2 θ ) และสูงสุดที่อัตรากลางที่แข็งแกร่งอื่น ๆº ( 2 θ )