Chemical and Mineralogical Analysis

Chemical and Mineralogical Analysis. Element compositions such as Si, Al, Fe, K, Ti, and Mg were determined in clays using energy dispersive X-ray spectroscopy (Horiba Co.,Kyoto, Japan) equipped with scanning electron microscope (Hitachi High-Technologies Co., Tokyo, Japan).21 Thequalitative mineral content of the clay sample was determined via X-ray diffraction using random powdered samples and

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวิเคราะห์ทางเคมี และประกอบแร่ กำหนดองค์ประกอบองค์ประกอบ เช่น Si, Al, Fe, K, Ti, Mg ในดินเหนียวที่ใช้พลังงาน dispersive X-ray สเปกโทรสโก (Horiba Co. เกียวโต ญี่ปุ่น) พร้อมกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (บริษัทเทคโนโลยีสูงฮิตาชิ โตเกียว ญี่ปุ่น) .21 Thequalitative แร่ธาตุของตัวอย่างดินถูกกำหนดผ่านการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ที่ใช้สุ่มตัวอย่างผง และ < 2 μ m ส่วนที่เตรียมไว้เป็นภาพยนตร์แนวดิน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สารเคมีและการวิเคราะห์แร่ องค์ประกอบของธาตุเช่นศรีอัลเฟ, K, Ti, Mg และได้รับการพิจารณาในดินโดยใช้พลังงานกระจาย X-ray สเปกโทรสโก (Horiba Co. , เกียวโตญี่ปุ่น) พร้อมกับกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (Hitachi สูง Technologies Co. , โตเกียว ญี่ปุ่น) เนื้อหา 0.21 Thequalitative แร่ของตัวอย่างดินที่ถูกกำหนดโดยผ่านเครื่อง X-ray เลนส์โดยใช้ตัวอย่างผงสุ่มและ <2 ไมครอนส่วนเตรียมเป็นภาพยนตร์ดินที่มุ่งเน้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ทางเคมีและแร่ . องค์ประกอบเช่นศรี , Al , Fe , K , ตี๋ , และ Mg ในดินถูกใช้เอ็กซเรย์พลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( horiba Co . , เกียวโต , ญี่ปุ่น ) พร้อม ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( Hitachi สูงเทคโนโลยี Co . , โตเกียว ประเทศญี่ปุ่น เนื้อหาแร่ 21 thequalitative ของดินตัวอย่างตั้งใจผ่านโดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์โดยใช้ตัวอย่าง ผงสุ่มและ < 2 เมตรเศษ เป็นภาพยนตร์ที่มุ่งเน้นμเตรียมดิน