For analytical techniques for deter

For analytical techniques for determining As(III) and As(V) in this research, Solid phase extraction,In situ membrane disk SPE, Wavelength-dispersive XRF (WDXRF) spectrometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับเทคนิคการวิเคราะห์สำหรับการกำหนด As(III) และ As(V) ในงานวิจัยนี้ การแยกเฟสของแข็ง ในเยื่อซิดิสก์ SPE, spectrometry XRF dispersive ความยาวคลื่น (WDXRF)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับเทคนิคการวิเคราะห์เพื่อกำหนดขณะที่ (III) และในฐานะที่เป็น (V) ในงานวิจัยนี้ได้สกัดสารในเฟสของแข็งใน SPE แหล่งกำเนิดดิสก์เมมเบรน, XRF ความยาวคลื่นกระจาย (WDXRF) spectrometry

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เทคนิคการวิเคราะห์เพื่อกำหนดตาม ( 3 ) และ ( 5 ) ในงานวิจัยนี้ การแยกเฟสของแข็งในแหล่งกำเนิดแผ่นดิสก์ใช้ความยาวคลื่น , XRF กระจายตัว ( wdxrf
) สเปกโตรเมทรี