The specimens were examined in a JE

The specimens were examined in a JEOL JSM-35C scanning electron microscope (JEOL Ltd.,
Tokyo, Japan)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ไว้เป็นตัวอย่างถูกตรวจสอบในกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน JEOL JSM - 35C (JEOL จำกัดโตเกียว ญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างที่มีการตรวจสอบใน JEOL JSM-35C สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (JEOL จำกัด
กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ทำการตรวจในจอล jsm-35c กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( Jeol )
, โตเกียว , ญี่ปุ่น