A rectangular film sample was caref

A rectangular film sample was carefully deposited onto carbon tabs (Agar Scientific, Stansted, UK) and coated with carbon (Agar turbo carbon coater) to improve conductivity. The scanning electron microscope analysis (SEM) was performed on a FEI Quanta 3D 200 dual beam focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM). The images were acquired using secondary electron imaging at an accelerating voltage of 5–15 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่างภาพยนตร์สี่เหลี่ยมอย่างฝากไว้บนแท็บคาร์บอน (วิทยาศาสตร์วุ้น สแตนสเต็ด สหราชอาณาจักร) และเคลือบ ด้วยคาร์บอน (วุ้น coater คาร์บอนเทอร์โบ) เพื่อปรับปรุงการนำ ทำการวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ตาม 3D ควอนตั้มเฟย 200 ลำแสงคู่โฟกัสไอออนบีมกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM โลตอแหล) ภาพได้รับมาใช้อิเล็กตรอนทุติยภาพที่แรงดันการเร่งของ 5 – 15 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างภาพยนตร์สี่เหลี่ยมถูกวางอย่างระมัดระวังบนแท็บคาร์บอนไดออกไซด์ (วุ้นวิทยาศาสตร์แตนสเต็ดสหราชอาณาจักร) และเคลือบด้วยคาร์บอนไดออกไซด์ (วุ้นเทอร์โบ Coater คาร์บอน) เพื่อปรับปรุงการนำ การวิเคราะห์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ได้รับการดำเนินการบนเฟควอนตั้ม 3D 200 คานคู่มุ่งเน้น Ion Beam กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FIB-SEM) ภาพที่ได้มาใช้ในการถ่ายภาพอิเล็กตรอนรองที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 5-15 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพยนตร์ตัวอย่างดีๆฝากไว้บนแท็บสี่เหลี่ยมคาร์บอน ( วุ้นทางวิทยาศาสตร์ , Stansted , สหราชอาณาจักร ) และเคลือบด้วยคาร์บอน ( Carbon วุ้นเทอร์โบ coater ) เพื่อปรับปรุงการนำ การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( SEM ) และแสดงบนเฟย Quanta 3D 200 คู่ลำแสงโฟกัสลำแสงไอออนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fib-sem ) ภาพโดยใช้ภาพอิเล็กตรอนทุติยภูมิที่เร่งแรงดัน 5 – 15 kV .