The epoxy samples were implanted wi

The epoxy samples were implanted with heavy ions such as tungsten (W), gold (Au) and lead (Pb) to
investigate the attenuation characteristics of these composites. Near-surface composition depth profiling
of ion-implanted epoxy systems was studied using Rutherford Backscattering Spectroscopy (RBS).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่างเรซินสังเคราะห์มี implanted ด้วยกันหนักเช่นทังสเตน (W), ทองคำ (Au) และตะกั่ว (Pb) การตรวจสอบลักษณะอ่อนของคอมโพสิตเหล่านี้ องค์ประกอบการสร้างโพรไฟล์ความลึกใกล้กับพื้นผิวระบบอีพ็อกซี่ implanted ไอออนถูกศึกษาใช้รูเทอร์ฟอร์ด Backscattering ก (RBS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างอีพ็อกซี่ถูกปลูกฝังด้วยไอออนหนักเช่นทังสเตน (W), ทอง (Au) และตะกั่ว (Pb)
เพื่อตรวจสอบลักษณะการลดทอนของวัสดุผสมเหล่านี้ องค์ประกอบใกล้พื้นผิวโปรไฟล์ลึกระบบอีพ็อกซี่ไอออนปลูกฝังการศึกษาโดยใช้สเปก backscattering รัทเธอร์ (RBS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

อีพ็อกซีจำนวน implanted กับไอออนหนัก เช่น ทังสเตน ( W ) ทอง ( Au ) และตะกั่ว ( Pb )

ศึกษาการคุณลักษณะของวัสดุเหล่านี้ ใกล้ผิวลึกองค์ประกอบโปรไฟล์ของไอออนปลูกฝังระบบอีพ็อกซี่
ศึกษาโดยใช้ Rutherford backscattering spectroscopy ( RBS )