Figure 2. Combined μ-XRF/XRD tomogr

Figure 2. Combined μ-XRF/XRD tomography on a layered paint fragment at a synchrotron microfocus beamline. For each translation–rotation step (xi , ωk ) an XRF spectrum and 2D-XRD pattern are produced. The corresponding radial scatter profile, obtained by azimuthal integration of the CCD-camera image, can be decomposed in several crystallographic phase contributions. The S-coefficients form the sinograms Sc(x,ω) from which distribution maps gc(x, y) are calculated.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 2 รวมคอมพิวเตอร์μ-XRF/XRD ในส่วนชั้นสีที่เป็น synchrotron microfocus beamline มีผลิตการ XRF สเปกตรัมและ 2D XRD รูปแบบสำหรับแต่ละขั้นตอนแปล – หมุน (สิ ωk) ค่ารัศมีกระจายสอดคล้อง ได้รับ โดยรวม azimuthal ของภาพ CCD กล้อง สามารถถูกย่อยสลายไปในผลงานระยะ crystallographic หลาย S-สัมประสิทธิ์การ Sc(x,ω) sinograms จากแผนผังการแจกจ่ายที่คำนวณ gc (x, y)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 2 รวมμ-XRF / เอกซ์เรย์ XRD ในส่วนสีชั้นที่ซินโคร microfocus ระบบลำเลียงแสง สำหรับแต่ละขั้นตอนการแปลหมุน (XI, ωk) สเปกตรัม XRF และรูปแบบ 2D-XRD มีการผลิต รายละเอียดกระจายรัศมีที่เกี่ยวข้องที่ได้รับจากการรวม azimuthal ของภาพ CCD กล้องที่สามารถย่อยสลายในการมีส่วนร่วมในเฟส crystallographic หลาย รูปแบบ S-สัมประสิทธิ์ Sc sinograms (x, ω) ซึ่งกระจายแผนที่ GC (x, y) จะคำนวณ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 รวมμ - XRF / ตรวจเอกซเรย์คอมพิวเตอร์บนชั้นสีส่วนที่พลิกลิ้นจุดโฟกัสบีมไลน์ . สำหรับแต่ละขั้นตอนการแปลและการหมุน ( Xi ω K ) สเปกตรัมและ XRF 2d-xrd ลายผลิต ที่โปรไฟล์กระจายรัศมีได้โดยการบูรณาการ azimuthal ของกล้อง CCD ภาพ สามารถย่อยสลายได้หลายทาง เฟส ผลงานการ s-coefficients รูปแบบ sinograms SC ( x , ω ) ซึ่งการกระจายแผนที่ GC ( X , Y ) คือการคำนวณ