Substrates in the heat exchanger tu

Substrates in the heat exchanger tubes were also analysed with Scanning electron microscopes (SEM) and X-ray analysis to evaluate the different spices that agglomerates on the heat exchanger surfaces.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พื้นผิวในท่อแลกเปลี่ยนความร้อนยังวิเคราะห์ ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) และการวิเคราะห์ X-ray เพื่อประเมินเครื่องเทศต่าง ๆ ที่ agglomerates บนพื้นผิวแลกเปลี่ยนความร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวในท่อแลกเปลี่ยนความร้อนนอกจากนี้ยังมีการวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด (SEM) และการวิเคราะห์ X-ray เพื่อประเมินเครื่องเทศต่างๆที่ agglomerates บนพื้นผิวแลกเปลี่ยนความร้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวในเครื่องแลกเปลี่ยนความร้อนแบบท่อยังวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( SEM ) และเอกซเรย์ การวิเคราะห์เพื่อประเมินแตกต่างกันเครื่องเทศที่รวมในเครื่องแลกเปลี่ยนความร้อนที่พื้นผิว