Bright field and dark field transmi

Bright field and dark field transmission electron microscope (TEM) images of selected HSS-TiN films are shown in Fig. 4. Selected area diffraction patterns of each film are inset. The major d-spacings can be indexed to BCC Fe and FCC TiN, in agreement with the XRD. The bright field image of the film deposited at − 25 V (Fig. 4(a)) shows a largely disordered microstructure. The diffraction pattern (inset in Fig. 4(b)) contains rings that can be indexed to BCC Fe, consistent with the XRD analysis and shows that the film has nanocrystalline microstructure with no evidence of preferred orientation. The dark field image of this film (Fig. 4(b)) reveals nano-scale crystals embedded throughout. The bright field image of the film deposited with a substrate bias of − 300 V (Fig. 4(c)) shows a coarse microstructure. The diffraction pattern (inset in Fig. 4(d)) indicates preferred orientation of the {110} Fe and {200} TiN planes perpendicular to the direction of film growth and nano-crystallites with this orientation are embedded throughout the film (Fig. 4(d)).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟิลด์สว่างและมืดฟิลด์ส่ง (TEM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนภาพฟิล์ม HSS TiN เลือกจะแสดงในรูปที่ 4 เลือกกระจายพื้นที่รูปแบบของภาพยนตร์แต่ละเรื่องจะสอด D-ระยะปลูกสำคัญสามารถถูกทำดัชนี BCC Fe และดีบุก FCC ข้อตกลงการ XRD ภาพสว่างฟิลด์ของฟิล์มฝากที่− 25 V (4(a)) รูปแสดงโครงสร้างจุลภาคเป็นระเบียบส่วนใหญ่ รูปแบบการเลี้ยวเบน (แทรกในรูป 4(b)) ประกอบด้วยแหวนที่สามารถจัดทำดัชนีในการสำเนาลับถึงเฟ สอดคล้องกับการวิเคราะห์ XRD และแสดงว่า ฟิล์มมีจุลภาค nanocrystalline ไม่มีหลักฐานของการวางแนวที่ต้องการ ภาพมืดฟิลด์ของภาพยนตร์เรื่องนี้ (รูปเผย 4(b)) ผลึกนาโนสเกลฝังตลอด ภาพสว่างฟิลด์ของฟิล์มฝาก ด้วยอคติพื้นผิวของ− 300 V (4(c)) รูปแสดงโครงสร้างจุลภาคหยาบ รูปแบบการเลี้ยวเบนของแสง (แทรกในรูป 4(d)) บ่งชี้ว่า ต้องวางแนวของ {110} Fe และ {200} ดีบุกเครื่องบินตั้งฉากกับทิศทางของการเจริญเติบโตของฟิล์ม และฝัง crystallites นาโนกับแนวนี้ทั้งม้วนฟิล์ม (รูป 4(d))

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สนามสว่างและความมืดกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์ฟิลด์ (TEM) ภาพที่เลือกหนังไฮสปีดดีบุกที่แสดงในรูป 4. เลือกรูปแบบพื้นที่การเลี้ยวเบนของภาพยนตร์แต่ละเรื่องจะถูกใส่เข้าไป สำคัญ D-ระยะปลูกสามารถจัดทำดัชนี BCC เฟและ FCC ดีบุกในข้อตกลงกับ XRD ภาพสนามที่สดใสของภาพยนตร์เรื่องนี้ฝาก - 25 V (Fig. 4 (ก)) แสดงให้เห็นถึงจุลภาคระเบียบส่วนใหญ่ รูปแบบการเลี้ยวเบน (สิ่งที่ใส่เข้าไปในรูปที่. 4 (ข)) มีแหวนที่สามารถจัดทำดัชนี BCC เฟสอดคล้องกับการวิเคราะห์ XRD และแสดงให้เห็นว่าภาพยนตร์เรื่องนี้มีจุลภาค nanocrystalline มีหลักฐานของการวางแนวที่ต้องการไม่มี ภาพมืดของหนังเรื่องนี้ (รูปที่. 4 (ข)) เผยให้เห็นผลึกระดับนาโนที่ฝังอยู่ตลอด ภาพสนามที่สดใสของภาพยนตร์เรื่องนี้ฝากไว้กับอคติของพื้นผิว - (Fig. 4 (ค)) 300 V แสดงจุลภาคหยาบ รูปแบบการเลี้ยวเบน (สิ่งที่ใส่เข้าไปในรูปที่. 4 (D)) ระบุการวางแนวทางที่ต้องการของ {110} เฟและ {200} เครื่องบิน TiN ตั้งฉากกับทิศทางการเติบโตของภาพยนตร์และนาโน crystallites ด้วยการวางนี้จะฝังตัวอยู่ตลอดฟิล์ม (รูป 4 (D))

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ด้านสว่างและด้านมืด ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( TEM ) ภาพที่เลือกจะแสดงในรูปฟิล์มดีบุกไฮสปีด 4 พื้นที่ที่เลือกรูปแบบการเลี้ยวเบนของภาพยนตร์แต่ละเรื่องเป็นสิ่งที่ใส่เข้าไป การ d-spacings สาขาสามารถดัชนี fe BCC FCC และดีบุก ในข้อตกลงกับ XRD . สดใสด้านภาพลักษณ์ของภาพยนตร์ฝากไว้ที่ 25 V − ( รูปที่ 4 ) แสดงให้เห็นส่วนใหญ่ระบบจุลภาค ภาพลวดลายการเลี้ยวเบน ( ใส่รูป 4 ( b ) ) ประกอบด้วย แหวนที่สามารถจัดทำดัชนีใน BCC Fe , สอดคล้องกับการวิเคราะห์ XRD และแสดงว่าฟิล์มมีโครงสร้าง nanocrystalline ไม่มีหลักฐานของที่ต้องการใช้ มืดฟิลด์ภาพของหนังเรื่องนี้ ( รูปที่ 4 ( B ) พบผลึกนาโน ขนาดอยู่ตลอด สดใสด้านภาพลักษณ์ของภาพยนตร์ที่ฝากไว้กับพื้นผิวมี 300 V − ( รูปที่ 4 ( c ) ) แสดงให้เห็นโครงสร้างที่หยาบ ภาพลวดลายการเลี้ยวเบน ( ใส่รูปที่ 4 ( D ) บ่งชี้ทิศทางที่ต้องการของ { 110 } และ { } ดีบุกเหล็ก 200 เครื่องบินตั้งฉากกับทิศทางของการพัฒนาฟิล์มและนาโน crystallites กับปฐมนิเทศนี้ฝังอยู่ทั่วฟิล์ม ( ภาพที่ 4 ( D )