Undoped and Mg-doped ZnO thin films

Undoped and Mg-doped ZnO thin films were deposited on Si(1 0 0) and quartz substrates by the sol–gel
method. The thin films were annealed at 873 K for 60 min. Microstructure, surface topography and optical
properties of the thin films have been measured by X-ray diffraction (XRD), atomic force microscope
(AFM), UV–vis spectrophotometer, and fluorophotometer (FL), respectively. The XRD results show that
the polycrystalline with hexagonal wurtzite structure are observed for the ZnO thin film with Mg:Zn = 0.0,
0.02, and 0.04, while a secondary phase of MgO is evolved for the thin film with Mg:Zn = 0.08. The ZnO:Mg-
2% thin film exhibits high c-axis preferred orientation. AFM studies reveal that rms roughness of the thin
films changes from 7.89 nm to 16.9 nm with increasing Mg concentrations. PL spectra show that the
UV–violet emission band around 386–402 nm and the blue emission peak about 460 nm are observed.
The optical band gap calculated from absorption spectra and the resistivity of the ZnO thin films increase
with increasing Mg concentration. In addition, the effects of Mg concentrations on microstructure, surface
topography, PL spectra and electrical properties are discussed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

films บาง undoped และ Mg เจือ ZnO ที่ถูกฝากไว้ใน Si(1 0 0) และพื้นผิวของควอทซ์ โดยโซลเจลวิธีการ films บางถูกอบที่ 873 K 60 นาทีจุลภาค พื้นผิวภูมิประเทศ และแสงคุณสมบัติของ films บางได้รับการวัด โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD), กล้องจุลทรรศน์แบบแรงอะตอม(AFM), สเปค UV – vis และ fluorophotometer (FL), ตามลำดับ ผล XRD แสดงว่าคโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยมจะสังเกตภาพยนตร์บาง ZnO มี Mg:Zn = 0.00.02 และ 0.04 ในขณะที่มีพัฒนาขั้นตอนรองของ MgO สำหรับภาพยนตร์บางกับ Mg:Zn = 0.08 ZnO:Mg-การการจัดแสดงภาพยนตร์บาง 2% สูงแกน c ต้องปฐมนิเทศ เปิดเผยการศึกษาที่มีประสิทธิผลที่ขรุขระ rms แบบบางfilms เปลี่ยนจาก 7.89 nm ถึง 16.9 นาโนเมตร โดยเพิ่มความเข้มข้นของ Mg PL สเปกตรัมแสดงว่าการการปล่อยรังสียูวี – ม่วงรัดรอบ 386 – 402 nm และปล่อยสีน้ำเงิน peak ประมาณ 460 nm จะสังเกตช่องแสงวงคำนวณจากสเปกตรัมการดูดซึมความต้านทานของ ZnO บางเพิ่ม filmsมีความเข้มข้น Mg เพิ่มขึ้น นอกจากนี้ ผลกระทบของความเข้มข้นของ Mg ในโครงสร้างจุลภาค พื้นผิวภูมิประเทศ PL สเปกตรัม และคุณสมบัติทางไฟฟ้าที่จะกล่าวถึง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โคบอลต์และแมกนีเซียมเจือ ZnO LMS บาง Fi ถูกวางลงบนศรี (1 0 0) และควอทซ์พื้นผิวโดย Sol-เจล
วิธีการ LMS จะ Fi บางถูกอบที่ 873 K สำหรับ 60 นาที จุลภาคภูมิประเทศพื้นผิวและแสง
คุณสมบัติของ LMS Fi บางได้รับการวัดจาก X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) แรงอะตอมกล้องจุลทรรศน์
(AFM) UV-Vis spectrophotometer และฟลอริด้า uorophotometer (FL) ตามลำดับ ผล XRD แสดงให้เห็นว่า
polycrystalline กับโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยมจะสังเกตสำหรับ LM Fi บางซิงค์ออกไซด์กับ Mg: Zn = 0.0,
0.02 และ 0.04 ในขณะที่ขั้นตอนที่สองของ MgO ถูกพัฒนาสำหรับ LM Fi บางกับ Mg: Zn = 0.08 ZnO: Mg-
2% บาง Fi LM การจัดแสดงนิทรรศการการวางแนวสูง C-แกนที่แนะนำ การศึกษาแสดงให้เห็นว่า AFM rms ความหยาบกร้านของบาง
Fi LMS เปลี่ยนแปลงจาก 7.89 นาโนเมตร 16.9 นาโนเมตรที่มีการเพิ่มความเข้มข้นของ Mg สเปกตรัม PL แสดงให้เห็นว่า
UV-ม่วงวงรอบการปล่อย 386-402 นาโนเมตรและการปล่อยยอดฟ้าประมาณ 460 นาโนเมตรจะสังเกตเห็น.
ช่องว่างวงออปติคอลคำนวณจากสเปกตรัมดูดซึมและความต้านทานของ ZnO LMS บาง Fi เพิ่มขึ้น
ด้วยการเพิ่มความเข้มข้นของ Mg นอกจากนี้ผลกระทบของความเข้มข้น Mg จุลภาคพื้นผิว
ภูมิประเทศ PL สเปกตรัมและคุณสมบัติทางไฟฟ้าที่จะกล่าวถึง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เคมีไฟฟ้า และแมกนีเซียมด้วยเช่นกันจึงถูกฝากไว้บนและบางจังหวัด ( 1 0 0 ) และควอตซ์พื้นผิวโดยโซล - เจลวิธี การสอนจึงมีบางอบที่เป็น K สำหรับ 60 นาที โครงสร้างจุลภาค ภูมิประเทศและพื้นผิวแสงคุณสมบัติของ LMS จึงบางวัดได้ด้วยเครื่อง X-ray diffraction ( XRD ) , กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม( AFM ) , UV - vis spectrophotometer และfl uorophotometer ( FL ) ตามลำดับ จาก XRD พบว่าส่วนผลึกที่มีโครงสร้าง wurtzite หกเหลี่ยมเป็นสังเกตสำหรับซิงค์ออกไซด์บางจึง LM กับ MG : Zn = 0.0 ,0.02 และ 0.04 , ในขณะที่เฟสที่สองของ MgO เป็นวิวัฒนาการเพื่อถ่ายทอดโดยบางกับมก. : Zn = 0.08 . โดย : มก. - ซิงค์ออกไซด์2 % โดยการปฐมนิเทศ c-axis บางจึงสูงมาก AFM การศึกษาเปิดเผยว่า ค่าความขรุขระของบางจึงมีการเปลี่ยนแปลงจาก LMS 7.89 nm ถึง 16.9 nm ที่มีปริมาณมิลลิกรัม เข้มข้น คุณสามารถแสดงให้เห็นว่ายูวีสีม่วง–การวงรอบ 386 – 402 nm และสีฟ้าปล่อยยอดเกี่ยวกับ 460 nm ตามลำดับช่องว่างแถบแสงที่คำนวณจากการดูดกลืนรังสีและความต้านทานของซิงค์ออกไซด์บาง ๆจึงสอนเพิ่มกับการเพิ่มมิลลิกรัมความเข้มข้น นอกจากนี้ผลของความเข้มข้นบนผิวต่อโครงสร้างจุลภาคภูมิประเทศ , Spectra PL และคุณสมบัติทางไฟฟ้าได้ถูก