Defects occur randomly over the sur

Defects occur randomly over the surface of a semiconductor
chip. However, only 80% of defects can be found by
testing. A sample of 40 chips with one defect each is tested.
Let X denote the number of chips in which the test finds a
defect.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อบกพร่องที่เกิดขึ้นแบบสุ่มบนพื้นผิวของสารกึ่งตัวนำที่ชิพ อย่างไรก็ตาม เท่านั้น 80% ของข้อบกพร่องได้โดยการทดสอบนั้น มีทดสอบตัวอย่างของชิ 40 กับหนึ่งบกพร่องให้ X แทนจำนวนชิในซึ่งการทดสอบพบว่าการข้อบกพร่อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อบกพร่องที่เกิดขึ้นแบบสุ่มมากกว่าพื้นผิวของสารกึ่งตัวนำที่
ชิป อย่างไรก็ตามมีเพียง 80% ของข้อบกพร่องที่สามารถพบได้โดย
การทดสอบ ตัวอย่างของ 40 ชิปที่มีหนึ่งข้อบกพร่องแต่ละคนจะได้รับการทดสอบ.
ให้ X แสดงว่าจำนวนชิปที่ทดสอบพบ
ข้อบกพร่อง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ข้อบกพร่องที่เกิดขึ้นแบบสุ่มทั่วพื้นผิวของสารกึ่งตัวนำชิป อย่างไรก็ตาม เพียง 80% ของข้อบกพร่องที่สามารถพบได้โดยการทดสอบ จำนวน 40 ชิปกับหนึ่งข้อบกพร่องแต่ละทดสอบ .ให้ x แทนจำนวนของชิปที่ทดสอบพบว่าข้อบกพร่อง