It is shown thatfundamentalparamete

It is shown thatfundamentalparameter based quanttfication is a versatile way of extracting
analytical resultsporn XRF measurements. For thick, bulk materials two sofiarepackage are
available which yield similar results. Only one of them is also capable of coping with stacks of
layers of unknown thickness. Resultsfor a number of sputtered layers are compared with ICP-AES
data and the agreement is found excellent,

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แสดง quanttfication thatfundamentalparameter ใช้เป็นเอนกประสงค์วิธีแยกresultsporn วิเคราะห์ XRF วัด สำหรับหนา มีจำนวนมากวัสดุสอง sofiarepackageว่างที่ผลลัพธ์คล้ายกัน หนึ่งในนั้นเป็นความสามารถในการเผชิญกับกองชั้นความหนาที่ไม่รู้จัก มีการเปรียบเทียบ Resultsfor จำนวนชั้น sputtered กับ ICP AESข้อมูลและข้อตกลงพบยอดเยี่ยม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มันแสดงให้เห็น thatfundamentalparameter quanttfication ตามเป็นวิธีการที่หลากหลายในการสกัด
resultsporn การวิเคราะห์การวัด XRF สำหรับหนาวัสดุที่เป็นกลุ่มสอง sofiarepackage
มีความสามารถที่ให้ผลลัพธ์ที่คล้ายกัน
เพียงคนเดียวของพวกเขายังมีความสามารถในการรับมือกับสแต็คของชั้นของความหนาที่ไม่รู้จัก Resultsfor จำนวนชั้น sputtered เป็นเมื่อเทียบกับ ICP-AES
ข้อมูลและข้อตกลงที่พบที่ยอดเยี่ยม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มันแสดง quanttfication ตาม thatfundamentalparameter มีประโยชน์วิธีสกัด
resultsporn XRF วิเคราะห์การวัด สำหรับหนา sofiarepackage วัสดุเป็นกลุ่มสองคน
ที่มีอยู่ ซึ่งให้ผลที่คล้ายกัน เพียงหนึ่งของพวกเขายังสามารถรับมือกับกอง
ชั้นความหนาของที่ไม่รู้จัก ในหมายเลขของ sputtered ชั้นเทียบกับเทคนิค
ข้อมูลและข้อตกลง
พบยอดเยี่ยม