The figure revealsthe XRD measureme

The figure reveals
the XRD measurements of three thin films: as-grown, annealed at
500 °C, and annealed at 600 °C

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เผยรูปวัด XRD ของฟิล์มบางที่สาม: เป็นโต อบที่500 ° C และอบที่อุณหภูมิ 600 ° C

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่แสดงให้เห็น
การวัด XRD สามฟิล์มบาง: เป็นที่ปลูกอบที่
500 องศาเซลเซียสและอบที่ 600 องศาเซลเซียส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูป เผยการศึกษาเฟส 3 : วัดของฟิล์มบางเป็นโต อบที่500 ° C และอบที่อุณหภูมิ 600 องศา C