The microstructures of the samples

The microstructures of the samples were observed by scanning electron microscopy (SEM, JSM-6040, 20 kV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟังก์ตัวอย่างถูกตั้งข้อสังเกต โดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, JSM-6040, 20 kV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างจุลภาคของกลุ่มตัวอย่างถูกตั้งข้อสังเกตจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, JSM-6040, 20 กิโลโวลต์)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของตัวอย่างที่พบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM jsm-6040 20 กิโล )