This figure shows a schematic for a

This figure shows a schematic for a generic SEM. Electrons from a filament in an electron gun are beamed at the specimen in a vacuum chamber. The beam forms a line that continuously sweeps across the specimen at high speed. This beam irradiates the specimen which in turn produces a signal in the form of either x-ray fluorescence, secondary or backscattered electrons.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปนี้แสดงเป็นแผนผังตัวอย่างสำหรับจะถ่ายทอดอิเล็กตรอนแบบ SEM. ทั่วไปจากใยในมีปืนอิเล็กตรอนที่สิ่งส่งตรวจในห้องสุญญากาศ คานแบบบรรทัดที่ต่อเนื่องระหว่างสิ่งส่งตรวจที่ความเร็วสูง คานนี้ irradiates ตัวอย่างซึ่งจะผลิตสัญญาณในรูปแบบของการเอกซเรย์ fluorescence อิเล็กตรอนรอง หรือ backscattered

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวเลขนี้แสดงให้เห็นวงจรสำหรับ SEM ทั่วไป อิเล็กตรอนจากไส้ในปืนอิเล็กตรอนที่มีการคานตัวอย่างในห้องสูญญากาศ ลำแสงรูปแบบเส้นที่ต่อเนื่องกวาดทั่วชิ้นงานที่มีความเร็วสูง ลำแสงนี้ irradiates ตัวอย่างซึ่งจะผลิตสัญญาณในรูปแบบของทั้ง X-ray fluorescence อิเล็กตรอนรองหรือสะท้อน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปนี้แสดงให้เห็นแผนผังเป็นแบบทั่วไป ผลิตจากเส้นใยในปืนอิเล็กตรอนจะแผ่รังสีที่ตัวอย่างในสูญญากาศ . คานฟอร์มบรรทัดที่ต่อเนื่องกวาดทั่วตัวอย่างที่ความเร็วสูง คานนี้ irradiates ชิ้นงานซึ่งจะก่อให้เกิดสัญญาณในรูปแบบของการเรืองรังสีเอกซ์ทุติยภูมิ หรือ backscattered อิเล็กตรอน