The past decade has seen an intensive effort to achieve optical imaging resolution beyond the diffraction limit. Apart from the Pendry–Veselago negative index superlens1, implementation of which in optics faces challenges of losses and as yet unattainable fabrication finesse, other super-resolution approaches necessitate the lens either to be in the near proximity of the object or manufactured on it2, 3, 4, 5, 6, or work only for a narrow class of samples, such as intensely luminescent7, 8 or sparse9 objects. Here we report a new super-resolution microscope for optical imaging that beats the diffraction limit of conventional instruments and the recently demonstrated near-field optical superlens and hyperlens. This non-invasive subwavelength imaging paradigm uses a binary amplitude mask for direct focusing of laser light into a subwavelength spot in the post-evanescent field by precisely tailoring the interference of a large number of beams diffracted from a nanostructured mask. The new technology, which—in principle—has no physical limits on resolution, could be universally used for imaging at any wavelength and does not depend on the luminescence of the object, which can be tens of micrometres away from the mask. It has been implemented as a straightforward modification of a conventional microscope showing resolution better than λ/6.
ทศวรรษที่ผ่านมาได้เห็นความพยายามอย่างเข้มข้นเพื่อให้บรรลุภาพแสงความละเอียดเกิน diffraction limit นอกจาก น เพนดรี– veselago ลบดัชนี superlens1 ใช้เลนส์ซึ่งในใบหน้าท้าทายของการสูญเสีย และยังไม่สามารถบรรลุการผลิตในแนวทางอื่น ๆ , super-resolution necessitate เลนส์ให้อยู่เคียงใกล้ ของวัตถุ หรือผลิตใน it2 , 3 , 4 , 5 , 6 , หรือทำงานเพียงห้องแคบของตัวอย่าง เช่นการ luminescent7 8 หรือ sparse9 วัตถุ ที่นี่เรารายงานกล้องจุลทรรศน์ super-resolution ใหม่แสงภาพที่เต้นการเลี้ยวเบนจำกัดของเครื่องมือแบบดั้งเดิมและเมื่อเร็ว ๆนี้แสดงให้เห็นถึงแสงและใกล้ซูเปอร์เลน hyperlens . ภาพนี้ไม่ subwavelength กระบวนทัศน์ใช้หน้ากากแบบไบนารีโดยตรงเน้นแสงเลเซอร์เป็น subwavelength จุดในการโพสต์อย่างรวดเร็วสนามแน่นอนตัดการรบกวนของตัวเลขขนาดใหญ่ของรังสีกระจายจากหน้ากาก nanostructured . เทคโนโลยีใหม่ ซึ่งในหลักการทางกายภาพไม่มีข้อจำกัดเรื่องความละเอียด อาจจะสามารถใช้สำหรับการถ่ายภาพใน คลื่น และ ไม่ได้ขึ้นอยู่กับการเปล่งแสงของวัตถุ ซึ่งสามารถนับไมโครเมตรจากหน้ากาก มันถูกใช้เป็นการปรับเปลี่ยนตรงไปตรงมาของไมโครสโคปทั่วไปแสดงความละเอียดที่ดีกว่าλ / 6
การแปล กรุณารอสักครู่..
