X-ray diffraction pattern for the Z

X-ray diffraction pattern for the ZnO nanoparticles was recorded using an X-ray
diffractometer (MD-10) using CuKa radiation of wavelength λ=1.5406 in the scan range
2θ=20°-90°. The optical absorption spectra of ZnO dispersed in water were recorded using
UV-VIS Spectrophotometer (GENESYS 10s v1.200 2L7H311008)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บันทึกรูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์สำหรับเก็บกัก ZnO ใช้การ X-ray
diffractometer (MD-10) โดยใช้รังสี CuKa ของความยาวคลื่นλ = 1.5406 ในช่วงการสแกน
2θ = 20 ° - 90 ° บันทึกแรมสเป็คตราดูดซึมแสงของ ZnO ที่กระจายในน้ำใช้
เครื่องทดสอบกรดด่าง UV-VIS (GENESYS 10s v1.200 2L7H311008)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์สำหรับอนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์ถูกบันทึกโดย X-ray
diffractometer (MD-10) โดยใช้รังสี Cuka ของความยาวคลื่นλ = 1.5406 ในช่วงการสแกน
2θ = 20 ° -90 ° สเปกตรัมการดูดกลืนแสงของ ZnO แยกย้ายกันไปในน้ำที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้
UV-VIS Spectrophotometer (10s GENESYS v1.200 2L7H311008)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ลวดลายการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์สำหรับอนุภาคนาโนซิงค์ออกไซด์ที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ (
md-10 ) ใช้ cuka รังสีความยาวคลื่นλ = 1.5406 ในการสแกนช่วงθ
2 = 20 องศา - 90 องศา . การดูดกลืนแสงอินฟราเรดสเปกตรัมของซิงค์ออกไซด์กระจายตัวในน้ำที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้
ไอออน Spectrophotometer ( เจเนซิส 10s v1.200 2l7h311008 )