2.4.5. X-ray diffraction analysisX-

2.4.5. X-ray diffraction analysis
X-ray diffraction (XRD) patterns of the samples were analyzed
by a JEOL JDX-3530 X-ray diffractomer (JEOL, Japan). Samples were
scanned at diffraction angles (2) from 5 to 40◦ using a scan rate of
0.02◦/s.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

2.4.5 การวิเคราะห์เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนมีวิเคราะห์รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ของตัวอย่างโดยการเอ็กซ์เรย์ JEOL JDX 3530 diffractomer (JEOL ญี่ปุ่น) ตัวอย่างดีสแกนที่มุมการเลี้ยวเบน (2) จาก 5 ไป 40◦ ใช้อัตราการสแกน0.02◦ / s

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.4.5 X-ray การวิเคราะห์การเลี้ยวเบน
X-ray diffraction (XRD)
รูปแบบของกลุ่มตัวอย่างที่ได้มาวิเคราะห์โดยJEOL JDX-3530 diffractomer เอ็กซ์เรย์ (JEOL ญี่ปุ่น) ตัวอย่างที่สแกนในมุมการเลี้ยวเบน (2) ตั้งแต่ 5 ถึง40◦โดยใช้อัตราคิดสแกน0.02◦ / วินาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.4.5 . การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์การวิเคราะห์
การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ของรูปแบบวิเคราะห์
โดยจอล jdx-3530 เอ็กซ์เรย์ diffractomer ( จอล ญี่ปุ่น ) จำนวน
สแกนที่มุมกระจายแสง ( 2 ) จาก 5 ถึง 40 ◦โดยใช้อัตราการสแกนของ
0.02 ◦
/ S