The fitting of the X-ray diffractio

The fitting of the X-ray diffraction pattern for the cryo-rolled Cu–3 at.% Ag by
the eCMWP method. The open circles and the solid line represent the measured
data and the fitted curves, respectively. The intensity is in logarithmic scale.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เหมาะสมของรูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์สำหรับการสะสม cryo Cu – 3 at.% Ag โดยeCMWP วิธีการ เปิดวงกลมและเส้นทึบแสดงถึงการวัดข้อมูลและเส้นโค้งผ่อน ตามลำดับ ความเข้มอยู่ในมาตราส่วนลอการิทึม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เหมาะสมของรูปแบบ X-ray diffraction สำหรับฝั่งรีด Cu-3 ที่. Ag% โดย
วิธีการ eCMWP วงการเปิดและเส้นทึบเป็นตัวแทนของวัด
ข้อมูลและเส้นโค้งที่ติดตั้งตามลำดับ ความรุนแรงอยู่ในระดับลอการิทึม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เหมาะสมของรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์สำหรับแช่แข็ง ม้วนทองแดง– 3 %
ecmwp เอจีโดยวิธี วงกลมเปิด และเส้นทึบแสดงวัด
ข้อมูลและเข็มขัดโค้ง ตามลำดับ ความเข้มในมาตราส่วนลอการิทึม