Therefore, the DUT was simulated wi

Therefore,
the DUT was simulated with the proposed NDT circuit vs.
a standard clamped inductive test. The same test
conditions were applied in the two cases and the results
are shown in Fig. 10.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดังนั้น บิลพัสดุ์ถูกจำลอง ด้วยเทียบกับวงจรผู้เสนอ มาตรฐาน clamped ทดสอบเหนี่ยว การทดสอบเดียวกัน ใช้เงื่อนไขในสองกรณีและผลลัพธ์ มีแสดงใน Fig. 10

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ดังนั้น
DUT ถูกจำลองกับวงจร NDT
เสนอกับมาตรฐานการทดสอบclamped อุปนัย การทดสอบเดียวกันเงื่อนไขถูกนำไปใช้ในกรณีที่สองและผลที่จะแสดงในรูป 10

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดังนั้นในการสั่งซื้อ
) ได้เสนอวงจรด้วย NDT กับ
มาตรฐานหนีบแบบทดสอบ เงื่อนไขการทดสอบ
เดียวกันถูกใช้ใน 2 กรณี และผลลัพธ์ที่แสดงในรูปที่ 10
.