a RINT2000 diffractometer(RIGAKU).

a RINT2000 diffractometer
(RIGAKU). The X-ray source was CuKα with accelerating
voltage of 40 kV, and the tube current of 40 mA. The XRD
patterns are typically plotted as the intensity of the diffracted
X-rays against the angle 2θ. The peaks will appear in the diffraction
pattern at the 2θ values when Bragg’s Law is satisfied. According
to the XRD patterns, the crystals present only the CaB2O4 phase,
and their patterns matched with the joint committee on powder
diffraction standards (JCPDS) record no. 32−0155. From the
results, no impurity phase was detected for both

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

RINT2000 diffractometer(RIGAKU) แหล่งเอ็กซ์เรย์มา CuKα กับเร่งแรงดันไฟฟ้า 40 kV และปัจจุบันหลอด 40 mA การ XRDรูปแบบโดยทั่วไปมีพล็อตเป็นความเข้มของการ diffractedรังสีเอกซ์กับ 2θ มุม แห่งจะปรากฏในแบบการเลี้ยวเบนรูปแบบค่า 2θ เมื่อกฎหมายของ Bragg จะพอใจ ตามเพื่อรูปแบบ XRD ผลึกนำเสนอเฉพาะระยะ CaB2O4และรูปแบบการจับคู่กับคณะกรรมการร่วมในผงการเลี้ยวเบนมาตรฐาน (JCPDS) บันทึกหมายเลข 32−0155 จากการผล ระยะมลทินไม่พบทั้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

diffractometer RINT2000
(Rigaku) แหล่งรังสีเอกซ์เป็นCuKαกับการเร่ง
แรงดันไฟฟ้า 40 กิโลโวลต์และปัจจุบันหลอด 40 มิลลิแอมป์ XRD
รูปแบบที่มีการพล็อตมักจะเป็นความรุนแรงของ diffracted
รังสีเอกซ์กับมุม2θ ยอดเขาที่จะปรากฏในการเลี้ยวเบน
รูปแบบที่ค่า2θเมื่อกฎหมายของแบร็กเป็นที่พอใจ ตาม
รูปแบบที่จะ XRD, คริสตัลปัจจุบันเพียงระยะ CaB2O4,
และรูปแบบของพวกเขาจับคู่กับคณะกรรมการร่วมในผง
มาตรฐานการเลี้ยวเบน (JCPDS) บันทึกไม่มี 32-0155 จาก
ผลการเฟสบริสุทธิ์ไม่มีการตรวจพบทั้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เป็น rint2000 ดิฟแฟรกโทมิเตอร์
( rigaku ) แหล่งกำเนิดรังสี - x เป็น cuk αกับเร่ง
แรงดัน 40 กิโล และหลอดปัจจุบันของ MA 40 การศึกษาเฟส
รูปแบบมักจะวางแผนตามความเข้มของรังสีเอกซ์กระจาย
กับมุมที่ 2 θ . ยอดจะปรากฏในรูปแบบการเลี้ยวเบน
ที่ 2 θค่าเมื่อนำกฎของพอใจ
ไปวิเคราะห์ตามรูปแบบผลึกปัจจุบันเพียงระยะ cab2o4
, และรูปแบบของพวกเขาจับคู่กับมติคณะกรรมการมาตรฐานโดยผง
( jcpds ) บันทึกหมายเลข 32 − 0155 . จาก
ผลลัพธ์ ไม่บริสุทธิ์ขั้นตอนที่ตรวจพบทั้ง