AFM and scanning electron microscop

AFM and scanning electron microscopy (SEM) were employed to examine the microstructure of the Pt electrode, which can be affected by the underlying YSZ films.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

AFM และการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ได้รับการว่าจ้างต่อโครงสร้างจุลภาคของไฟฟ้า Pt ซึ่งสามารถได้รับผลกระทบ โดยฟิล์ม YSZ อยู่ภายใต้การตรวจสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

AFM และการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ที่ถูกว่าจ้างในการตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของอิเล็กโทรพอยต์ซึ่งได้รับผลกระทบจากภาพยนตร์ YSZ พื้นฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

AFM และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ถูกใช้เพื่อตรวจสอบโครงสร้างจุลภาคของ PT ) ซึ่งได้รับผลกระทบจากต้นแบบ ซึ่งภาพยนตร์