X-ray diffraction patterns were rec

X-ray diffraction patterns were recorded on a Bruker D4-Endeavor instrument (40kV,40mA)with a CuK wavelength,from 10 to 100• in 2-Theta,step size of 0.02• and 3.6s/step scan.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนที่ต้องบันทึกรูปแบบบนเครื่อง Bruker D4-แข่งขันมือ (40kV, 40mA) กับความ CuK, 10 การ 100• ในทีตา 2 ขั้นตอนขนาด 0.02• และ 3.6s/ขั้น ตอนการสแกน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ถูกบันทึกไว้ในตราสาร Bruker D4-Endeavor (40kV, 40mA) ที่มีความยาวคลื่น Cuk, 10-100 •ใน 2 ทีขนาด 0.02 ขั้นตอนของ•และ 3.6s / ขั้นตอนการสแกน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ถูกบันทึกไว้บนอุปกรณ์การแข่งขัน BRUKER ( 40kv D4 , cuk 40Ma ) ที่มีความยาวคลื่นตั้งแต่ 10 - 100 - ใน 2-theta ขั้นตอนขนาด 0.02 - 3.6s/step และสแกน