Fig.1 SEM (left) and EBIC (right) p

Fig.1 SEM (left) and EBIC (right) photo showing flashover
damage along the surface of the silicon not visible
with regular secondary electron imaging.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพถ่ายแสดง flashover ภาพ SEM (ซ้าย) และ EBIC (ขวา)ความเสียหายบริเวณพื้นผิวของซิลิกอนที่มองไม่เห็นมีภาพปกติสองอิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 1 SEM (ซ้าย) และ EBIC (ขวา) ภาพแสดง flashover ความเสียหายตามพื้นผิวของซิลิกอนที่มองเห็นได้ด้วยการถ่ายภาพปกติอิเล็กตรอนทุติยภูมิ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ebic ” SEM ( ซ้าย ) และ ( ขวา ) การแสดงภาพวาบ
ความเสียหายไปตามพื้นผิวของซิลิคอนมองไม่เห็น
ปกติรองอิเล็กตรอนการถ่ายภาพ .