The X-ray Photoelectron Spectroscop

The X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS or ESCA) analysis is used to determine the type and oxidation state of elements on the surface of natural zeolite by X-ray radiation from anode, e.g. Al anode, mostly by putting the sample in the form of 1 mm thick pressed pallet. XPS depth profiling can be performed by alternating cycles of ion sputtering to remove surface layers of zeolite and acquisition of photoelectron spectra (ion sputtering can be performed with 1 keVAr+ beam rastering over 3 x 3 mm2 area). In this way a depth distribution of elements can be obtained. The relative error for calculated concentrations of metals is estimated to be about 20%.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิเคราะห์เอกซเรย์ Photoelectron ก (XPS หรือ ESCA) ถูกใช้เพื่อกำหนดสถานะออกซิเดชันและชนิดขององค์ประกอบบนพื้นผิวของการใช้ซีโอไลต์ธรรมชาติ โดยรังสีเอกซเรย์จากแอโนด เช่นอัลแอโนด ส่วนใหญ่ โดยใส่ตัวอย่างในรูปแบบของแท่นกดหนา 1 มม. สร้างโพรไฟล์ความลึก XPS สามารถกระทำได้ โดยการสลับวงจรของไอออนพ่นเอาชั้นผิวใช้ซีโอไลต์และซื้อแรมสเป็คตรา photoelectron (พ่นไอออนสามารถใช้ได้กับ 1 keVAr + คาน rastering กว่า 3 x 3 มม 2 ได้ภายตั้ง) วิธีนี้ สามารถได้รับการกระจายความลึกขององค์ประกอบ ข้อผิดพลาดสัมพัทธ์สำหรับคำนวณความเข้มข้นของโลหะคือประมาณ 20%

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray ไฟฟ้าจากแสงสเปก (XPS หรือ ESCA) การวิเคราะห์จะใช้ในการตรวจสอบชนิดและสถานะออกซิเดชันขององค์ประกอบบนพื้นผิวของซีโอไลท์ธรรมชาติโดยการฉายรังสีเอ็กซ์เรย์จากขั้วบวกเช่นอัลขั้วบวกส่วนใหญ่โดยการวางตัวอย่างในรูปแบบของ หนา 1 มิพาเลทกด โปรไฟล์ลึก XPS สามารถทำได้โดยสลับรอบของสปัตเตอร์ไอออนลบชั้นพื้นผิวของซีโอไลท์และการซื้อกิจการของสเปกตรัมโฟโตอิเล็กตรอน (สปัตเตอร์ไอออนสามารถดำเนินการกับ 1 keVAr + คาน rastering มากกว่า 3 x 3 mm2 พื้นที่) ในทางกระจายความลึกขององค์ประกอบที่จะได้รับนี้ ข้อผิดพลาดที่สัมพันธ์กันสำหรับความเข้มข้นของโลหะคำนวณคาดว่าจะอยู่ที่ประมาณ 20%

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโกปี ( XPS หรือเอสคาร์ ) การวิเคราะห์ใช้เพื่อกำหนดประเภทและสถานะออกซิเดชันขององค์ประกอบบนพื้นผิวของซีโอไลต์ธรรมชาติโดยรังสีเอกซเรย์จากขั้วบวก เช่น Al แอโนด โดยเอาตัวอย่างในรูปแบบของ 1 มิลลิเมตร หนา กดพาเลทโปรไฟล์ XPS ความลึกสามารถกระทำได้โดยการสลับวงจรของไอออนลบชั้นผิวของซีโอไลท์เตอร์และการได้มาซึ่ง photoelectron Spectra ( ไอออนสปัตเตอริงสามารถดำเนินการกับ 1 kevar คาน rastering 3 x 3 พื้นที่แน่น ) ในวิธีนี้การกระจายความลึกขององค์ประกอบที่สามารถรับ ความผิดพลาดสัมพัทธ์คำนวณความเข้มข้นของโลหะที่คาดว่าจะอยู่ที่ประมาณ 20 %