the external quantum efficiency in

the external quantum efficiency in the range from 400 to 600 nm significantly decreased after the potential-induced degradation test, although no change was observed from 800 yo 1100 nm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ประสิทธิภาพควอนตัมภายนอกในช่วงตั้งแต่ 400 ถึง 600 nm ลดลงหลังจากการทดสอบการย่อยสลายเกิดศักยภาพ แม้ว่าจะไม่เปลี่ยนแปลงพบว่า 800 yo 1100 nm

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ประสิทธิภาพการใช้ควอนตัมภายนอกในช่วง 400-600 นาโนเมตรลดลงอย่างมีนัยสำคัญหลังจากการทดสอบการย่อยสลายที่มีศักยภาพที่เกิดขึ้นแม้จะไม่มีการเปลี่ยนแปลงที่เป็นข้อสังเกตจาก 800 1100 นาโนเมตร Yo

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภายนอกประสิทธิภาพควอนตัมในช่วงตั้งแต่ 400 ถึง 600 nm ลดลงหลังจากการทดสอบศักยภาพในการย่อยสลาย แม้ว่าไม่มีการเปลี่ยนแปลง คือ สังเกตจาก 800 โย 1100 นาโนเมตร