Range of values=[0.0 to 500.0]Gridf

Range of values=[0.0 to 500.0]
Gridfinger defect factor (soldering), defects on cell border sections [%]
A power loss factor can be specified for gridfinger defects due to erroneous soldering. This
factor is applied only to gridfinger defects in border sections of a cell.
Default value=80.0
Range of values=[0.0 to 500.0]
Gridfinger defect factor (soldering), defects between busbars [%]
A power loss factor can be specified for gridfinger defects due to erroneous soldering. This
factor is applied only to gridfinger defects in center sections of a cell.
Default value=30.0
Range of values=[0.0 to 500.0]
Gridfinger defect factor (printing) [%]
A power loss factor can be specified for gridfinger defects due to erroneous printing. This
factor is applied to all screen printing defects.
Default value=15.0
Range of values=[0.0 to 500.0]
Dark spot defect factor [%]
A power loss factor can be specified for dark spot defects. This factor is applied to all dark
spots from checker 1, 4, 5 and 6.
Default value=75.0
Range of values=[0.0 to 500.0]
Dark spot defect factor (soldering) [%]
A power loss factor can be specified for dark spot defects due to erroneous soldering. This
factor is applied to all dark spots from checker 2 and 3.
Default value=40.0
Range of values=[0.0 to 500.0]
Bright regions defect factor [%]
A power loss factor can be specified for bright regions defects (shunts).
Default value=50.0
Range of values=[0.0 to 500.0]
• PL2: Visible defects
This prediction scheme runs a power loss calculation similar to PL1. Furthermore, cracks
are taken into account as if a thermal and mechanical stress test had been carried out.
Separated cell sections next to micro or impact cracks are calculated and added to the PL1
prediction scheme. All parameters from PL1 & PL2 are used in this prediction.
Use micro cracks:
’on’ = Potential defect areas of micro cracks are used in the PL2 prediction scheme
’off’ = Potential defect areas of micro cracks are ignored
pi4_robotics GmbH
Gustav-Meyer-Allee 25
D-13355 Berlin
8/12

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ช่วงของค่า = [0.0-500.0]Gridfinger defect (บัดกรี), ปัจจัยข้อบกพร่องในส่วนเส้นขอบเซลล์ [%]สามารถระบุปัจจัยการสูญเสียพลังงานสำหรับข้อบกพร่อง gridfinger เนื่องจากมีข้อผิดพลาดในการบัดกรี นี้มีใช้ปัจจัยเท่ากับ gridfinger ข้อบกพร่องในส่วนเส้นขอบของเซลล์ค่าเริ่มต้น = 80.0ช่วงของค่า = [0.0-500.0]Gridfinger defect (บัดกรี), ปัจจัยข้อบกพร่องระหว่าง busbars [%]สามารถระบุปัจจัยการสูญเสียพลังงานสำหรับข้อบกพร่อง gridfinger เนื่องจากมีข้อผิดพลาดในการบัดกรี นี้มีใช้ปัจจัยเท่ากับ gridfinger ข้อบกพร่องในส่วนกลางของเซลล์ค่าเริ่มต้น = 30.0ช่วงของค่า = [0.0-500.0]ปัจจัยข้อบกพร่อง Gridfinger (พิมพ์) [%]สามารถระบุปัจจัยการสูญเสียพลังงานใน gridfinger ข้อบกพร่องจากการพิมพ์ผิดพลาด นี้มีใช้ปัจจัยเพื่อพิมพ์ข้อบกพร่องทั้งหมดหน้าจอค่าเริ่มต้น = 15.0ช่วงของค่า = [0.0-500.0]ปัจจัยข้อบกพร่องจุดมืด [%]สามารถระบุปัจจัยการสูญเสียพลังงานสำหรับข้อบกพร่องจุดมืด ตัวนี้ใช้สีดำทั้งหมดจุดจากตัวที่ 1, 4, 5 และ 6ค่าเริ่มต้น = 75.0ช่วงของค่า = [0.0-500.0]ปัจจัยข้อบกพร่องจุดมืด (บัดกรี) [%]สามารถระบุปัจจัยการสูญเสียพลังงานสำหรับข้อบกพร่องจุดมืดเนื่องจากมีข้อผิดพลาดในการบัดกรี นี้ปัจจัยที่จะใช้กับฝ้าทั้งหมดจากตัวที่ 2 และ 3ค่าเริ่มต้น = 40.0ช่วงของค่า = [0.0-500.0]ปัจจัยข้อบกพร่องภูมิภาคสว่าง [%]สามารถระบุปัจจัยการสูญเสียพลังงานในภูมิภาคสว่างข้อบกพร่อง (shunts)ค่าเริ่มต้น = 50.0ช่วงของค่า = [0.0-500.0]• PL2: ข้อบกพร่องที่มองเห็นได้โครงร่างนี้คาดเดาทำงานการไฟฟ้าขาดทุนคำนวณคล้ายกับ PL1 นอกจากนี้ รอยแตกพิจารณาว่าทดสอบความเครียดของความร้อน และเครื่องจักรกลมีการดำเนินการคำนวณ และเพิ่ม PL1 แบบแยกเซลล์ส่วนติดรอยไมโครหรือผลกระทบคาดเดาแผนการ ใช้พารามิเตอร์ทั้งหมดจาก PL1 PL2 ในพยากรณ์นี้ใช้รอยแตกขนาดเล็ก:'บน' =เกิดความบกพร่องด้านไมโครใช้รอยแตกในโครงร่างทาย PL2'ปิด' =เกิดความบกพร่องด้านไมโครที่รอยแตกจะถูกละเว้นpi4_robotics GmbHกุสตาฟ-Meyer-ห้อง 25D-13355 เบอร์ลิน8/12

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ช่วงของค่า = [0.0-500.0]
ปัจจัยข้อบกพร่อง Gridfinger (บัดกรี) ข้อบกพร่องในส่วนชายแดนเซลล์ [%]
ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุข้อบกพร่อง gridfinger เนื่องจากการบัดกรีที่ผิดพลาด ซึ่งปัจจัยที่จะนำมาใช้กับข้อบกพร่อง gridfinger ในส่วนชายแดนของเซลล์. ค่าเริ่มต้น = 80.0 ช่วงของค่า = [0.0-500.0] ปัจจัยข้อบกพร่อง Gridfinger (บัดกรี) ข้อบกพร่องระหว่าง busbars [%] ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุสำหรับ gridfinger ข้อบกพร่องที่เกิดจากการบัดกรีที่ผิดพลาด ซึ่งปัจจัยที่จะนำมาใช้กับข้อบกพร่อง gridfinger ในส่วนศูนย์ของเซลล์. ค่าเริ่มต้น = 30.0 ช่วงของค่า = [0.0-500.0] ปัจจัยข้อบกพร่อง Gridfinger (พิมพ์) [%] ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุข้อบกพร่อง gridfinger เนื่องจากการผิดพลาด การพิมพ์ ซึ่งปัจจัยที่จะนำไปใช้ข้อบกพร่องการพิมพ์หน้าจอทั้งหมด. ค่าเริ่มต้น = 15.0 ช่วงของค่า = [0.0-500.0] ปัจจัยข้อบกพร่องจุดมืด [%] ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุข้อบกพร่องจุดด่างดำ ปัจจัยนี้ถูกนำไปใช้สีเข้มทุกจุดตรวจสอบจาก 1, 4, 5 และ 6 ค่าเริ่มต้น = 75.0 ช่วงของค่า = [0.0-500.0] ปัจจัยข้อบกพร่องจุดมืด (บัดกรี) [%] ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุมืด ข้อบกพร่องจุดเนื่องจากการบัดกรีที่ผิดพลาด ซึ่งปัจจัยที่จะนำไปใช้จุดด่างดำจากการตรวจสอบที่ 2 และ 3 ค่าเริ่มต้น = 40.0 ช่วงของค่า = [0.0-500.0] ภูมิภาคสดใสข้อบกพร่องปัจจัย [%] ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุสำหรับภูมิภาคสดใสข้อบกพร่อง (ดาษดื่น). เริ่มต้น value = 50.0 ช่วงของค่า = [0.0-500.0] • PL2: ข้อบกพร่องที่มองเห็นรูปแบบการทำนายนี้จะทำงานการคำนวณการสูญเสียพลังงานคล้ายกับPL1 นอกจากนี้รอยแตกจะนำมาพิจารณาเช่นถ้าการทดสอบความเครียดความร้อนและเครื่องจักรกลได้รับการดำเนินการ. ส่วนมือถือเฉพาะกิจติดกับรอยแตกขนาดเล็กหรือผลกระทบที่จะมีการคำนวณและเพิ่มเข้าไปใน PL1 โครงการทำนาย พารามิเตอร์ทั้งหมดจาก PL1 และ PL2 ที่ใช้ในการทำนายนี้. ใช้รอยแตกขนาดเล็ก: 'ใน' = พื้นที่ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นของรอยแตกขนาดเล็กใช้ใน PL2 ทำนายโครงการ'ปิด' = พื้นที่ข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นของรอยแตกขนาดเล็กจะถูกละเว้นpi4_robotics GmbH กุสตาเมเยอร์ -Allee 25 D-13355 เบอร์ลิน8/12

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ช่วงของค่า = [ 0.0 ถึง 500.0 ]
gridfinger ข้อบกพร่องตัวประกอบ ( บัดกรี ) ข้อบกพร่องในมือถือชายแดนส่วน [ % ] : การสูญเสียพลังงานปัจจัยสามารถระบุสำหรับ gridfinger เนื่องจากข้อบกพร่องผิดพลาดบัดกรี ปัจจัยนี้
ใช้เท่านั้นที่จะ gridfinger ข้อบกพร่องในชายแดน ส่วนมือถือ ค่าเริ่มต้น =

= [ ช่วงของค่าร้อยละ 0.0 ถึง 500.0 ]
gridfinger ข้อบกพร่องข้อบกพร่องระหว่างปัจจัย ( บัดกรี ) busbars [ % ]
ปัจจัยการสูญเสียพลังงานสามารถระบุสำหรับ gridfinger เนื่องจากข้อบกพร่องผิดพลาดบัดกรี ปัจจัยนี้
ใช้เพียง gridfinger ศูนย์ข้อบกพร่องในส่วนของมือถือ ค่าเริ่มต้น =

ช่วง 30.0 ค่า = [ 0.0 ถึง 500.0 ]
gridfinger ข้อบกพร่องด้าน ( พิมพ์ ) [ % ] : การสูญเสียพลังงานปัจจัยสามารถระบุสำหรับข้อบกพร่อง gridfinger เนื่องจากพิมพ์ผิดพลาด ปัจจัยนี้
ใช้ข้อบกพร่องทั้งหมดพิมพ์หน้าจอ

= ค่าเริ่มต้นเป็นช่วงของค่า = [ 0.0 ถึง 500.0 ]
มืดจุดบกพร่องปัจจัย [ % ] : การสูญเสียพลังงานด้านมืดสามารถระบุจุดบกพร่อง ปัจจัยนี้จะนำไปใช้กับมืด
จุดจากตรวจสอบ 1 , 4 , 5 และ 6

= ค่าเริ่มต้นแสดงช่วงของค่า = [ 0.0 ถึง 500.0 ]
มืดจุดบกพร่องปัจจัย ( บัดกรี ) [ % ] : การสูญเสียพลังงานปัจจัยสามารถระบุสำหรับข้อบกพร่องจุดด่างดำเนื่องจากการผิดพลาดบัดกรี นี้
ปัจจัยที่จะนำไปใช้กับจุดด่างดำ จากตรวจสอบ 2 และ 3 . ค่าเริ่มต้น = 40.0

ช่วงของค่า = [ 0.0 ถึง 500.0 ]
สดใสภูมิภาคจากปัจจัย [ % ] : การสูญเสียพลังงานปัจจัยสามารถระบุข้อบกพร่อง ( สดใสภูมิภาคด้ )

ช่วงของค่าเริ่มต้น = : = [ 0.0 ค่า เพื่อ 500.0 ]
-
: ข้อบกพร่องที่มองเห็นได้นี้ทำนาย PL2 โครงการวิ่งการสูญเสียพลังงานการคำนวณคล้ายกับ PL1 . นอกจากนี้ รอยแตก
จะพิจารณาว่าเป็นทางความร้อนและเชิงกลการทดสอบความเครียดได้รับการ แบ่งเซลล์ต่อไป
ส่วนไมโครหรือผลกระทบรอยแตก คำนวณและเพิ่มไปยัง PL1
ทำนายแบบ พารามิเตอร์ทั้งหมดจาก PL1 & PL2 ที่ใช้ในการทำนายนี้ .
ใช้รอยแตก Micro :
' = ศักยภาพในพื้นที่ของข้อบกพร่อง micro รอยแตกที่ใช้ในการทำนายรูปแบบ
PL2' ปิด ' = ศักยภาพของเสียบริเวณรอยแตกไมโครไม่สนใจ

pi4_robotics GmbH กุสตาฟเมเยอร์เอิลลี่ 25

8 / 12 d-13355 เบอร์ลิน