The dispersion of the silica nanopa

The dispersion of the silica nanoparticles were observed from
the fracture surfaces after impact testing using a field emission
scanning electron microscope (FESEM, Jeol JSM6700F) operated at
5 kV. To evaluate the deformation mechanisms of epoxy/silica
nanocomposites, a small angle X-ray diffractometer, Xeuss 2.0
laboratory beamline from Xenocs with a wavelength of
l(CuKa) ¼ 1.5418 Å, was used to probe the deformation
morphology.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การกระจายตัวของเก็บกักซิลิกาถูกตั้งข้อสังเกตจากพื้นแตกหักหลังจากผลการทดสอบโดยใช้การปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (FESEM, Jeol JSM6700F) ดำเนินการที่5 kV การประเมินกลไกการเสียรูปของอีพ็อกซี่/ซิลิกาสิทเหล่า เป็นมุมเล็ก X-ray diffractometer, Xeuss 2.0ห้องปฏิบัติการ beamline จาก Xenocs มีความยาวคลื่นl(CuKa) 1.5418 ¼Å ใช้ในการสอบสวนการแมพสัณฐานวิทยา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การกระจายของอนุภาคนาโนซิลิกาถูกตั้งข้อสังเกตจาก
พื้นผิวการแตกหักหลังจากที่ส่งผลกระทบต่อการทดสอบโดยใช้ข้อมูลการปล่อยก๊าซ
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FESEM, Jeol JSM6700F) ดำเนินการใน
5 กิโลโวลต์ เพื่อประเมินความผิดปกติของกลไกอีพ็อกซี่ / ซิลิกา
นาโนคอมพอสิต, มุมเล็ก ๆ X-ray diffractometer, Xeuss 2.0
beamline ห้องปฏิบัติการจาก Xenocs ที่มีความยาวคลื่นของ
L (CuKa) ¼ 1.5418 ที่ถูกใช้ในการสอบสวนการเสียรูป
สัณฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การกระจายตัวของอนุภาคนาโนซิลิกาที่พบจากการใช้พื้นผิวหลังจากการทดสอบผลกระทบด้านมลพิษกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fesem จอล , jsm6700f ) ดำเนินการ5 KV . เพื่อประเมินความผิดปกติของกลไกอีพ็อกซี่ / ซิลิกานาโนคอมโพสิต , เล็กมุมเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ xeuss 2.0 ,ห้องปฏิบัติการบีมไลน์จาก xenocs ด้วยความยาวคลื่นL ( cuka ) ¼ 1.5418 •วัดเสียรูป ,น้ำหนัก