XRD measurements of nano-γ-Al2O3 an

XRD measurements of nano-γ-Al2O3 and sulfonic acid functionalized nano-γ-Al2O3 exhibit diffraction peaks at around 19.5, 32.6, 36.6, 39.5, 45.8, 60.6, and 67.2 corresponding to the (111), (220), (311), (222), (400), (511), and (440) faces (Figure 2). The observed diffraction peaks agree well with the cubic structure of γ-Al2O3 (JCPDS file number 29-0063). It is clear that the ordered structure of nano-γ-Al2O3 is retained after introducing the propylsulfonic acid group. The average crystallite sizes are calculated to be 14.9 nm using the Scherrer equation, which are in good accordance with TEM results.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดนาโน-γ-Al2O3 และลกรด functionalized นาโน-γ-Al2O3 XRD แสดงยอดการเลี้ยวเบนที่ 19.5, 32.6, 36.6, 39.5, 45.8, 60.6 และ 67.2 ที่สอดคล้องกับ (111), (220), (311), (222), (400), (511), และ (440) (รูปที่ 2) แห่งการเลี้ยวเบนที่สังเกตเห็นดี ด้วยโครงสร้างลูกบาศก์ของγ-Al2O3 (JCPDS หมายเลขไฟล์ 29-0063) เป็นที่ชัดเจนว่า โครงสร้างนาโน-γ-Al2O3 ที่สั่งจะถูกเก็บไว้หลังจากการแนะนำกลุ่มกรด propylsulfonic ขนาด crystallite เฉลี่ยคำนวณได้เท่ากับ 14.9 nm ใช้สมการ Scherrer ซึ่งในดียการผลการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด XRD ของนาโนγ-Al2O3 และกรดซัลโฟฟังก์ชันนาโนγ-Al2O3 ยอดเลนส์จัดแสดงอยู่ที่ประมาณ 19.5, 32.6, 36.6, 39.5, 45.8, 60.6 และ 67.2 สอดคล้องกับ (111) (220) (311) (222) (400) (511) และ (440) ใบหน้า (รูปที่ 2) ยอดการเลี้ยวเบนที่สังเกตเห็นได้ดีกับโครงสร้างลูกบาศก์γ-Al2O3 (หมายเลขไฟล์ JCPDS 29-0063) เป็นที่ชัดเจนว่าโครงสร้างสั่งนาโนγ-Al2O3 จะยังคงอยู่หลังจากการแนะนำกลุ่มกรด propylsulfonic ขนาดผลึกเฉลี่ยจะคำนวณให้เป็น 14.9 นาโนเมตรโดยใช้สมการ Scherrer ซึ่งเป็นไปตามที่ดีกับผลการ TEM