To identify the chemical species of

To identify the chemical species of the residues remaining at
the decal substrates after hot-pressing, energy dispersive Xray
spectroscopy (EDX) was conducted using small pieces that
were obtained from the middle of the Kapton films as samples.
The surface and cross-sectional morphologies of the
anodes and cathodes were observed by scanning electron
microscopy (SEM). In order to prepare the samples for SEM
imaging, used MEAs were placed in liquid N2 for about 10 min,
and then were broken into small pieces. A field emission
scanning electron microscope (FESEM, XL-30 FEG-ESEM, EFI
Co.) was used for both EDX and SEM analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระบุพันธุ์ตกค้างเหลืออยู่ในสารเคมีพื้นผิวหลังจากพลังงานร้อนกด decal dispersive Xrayก (เรื่อง) ที่ดำเนินการโดยใช้ชิ้นเล็กที่ได้รับมาจากตรงกลางของฟิล์ม Kapton ได้เป็นตัวอย่างMorphologies เหลว และพื้นผิวของการanodes และ cathodes สุภัค โดยสแกนอิเล็กตรอนmicroscopy (SEM) การเตรียมตัวอย่างสำหรับ SEMถ่ายภาพ ใช้สไว้ใน N2 เหลวสำหรับประมาณ 10 นาทีและจากนั้น ได้แตกเป็นชิ้นเล็ก ๆ มลพิษฟิลด์สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (EFI FESEM, XL 30 FEG-ESEMจำกัด) ใช้สำหรับการวิเคราะห์เรื่องทั้ง SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อระบุสารเคมีชนิดของสารตกค้างที่เหลืออยู่ที่
พื้นผิวรูปลอกหลังจากร้อนกดกระจายพลังงาน Xray
สเปกโทรสโก (EDX) ได้ดำเนินการโดยใช้ชิ้นส่วนขนาดเล็กที่
ได้รับจากตรงกลางของภาพยนตร์ Kapton เป็นตัวอย่าง.
พื้นผิวและรูปร่างลักษณะตัดขวาง ของ
anodes และ cathodes ถูกตั้งข้อสังเกตจากการสแกนอิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์ส่องกราด (SEM) เพื่อที่จะเตรียมความพร้อมสำหรับตัวอย่าง SEM
ถ่ายภาพ MEAs ใช้อยู่ในของเหลว N2 ประมาณ 10 นาที
และจากนั้นถูกแบ่งออกเป็นชิ้นเล็ก ๆ การปล่อยข้อมูล
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FESEM, XL-30 FEG-Esem, EFI
จำกัด ) ถูกนำมาใช้สำหรับทั้ง EDX และการวิเคราะห์ SEM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อระบุชนิดของสารเคมีที่ตกค้างอยู่หลังจากการกดร้อน
แผ่นรูปลอก , พลังงานกระจายตัว Xray
spectroscopy ( การวัด ) จำนวนชิ้นเล็กที่
ได้จากตรงกลางของ Kapton ภาพยนตร์เป็นตัวอย่าง และลักษณะของพื้นผิวหน้าตัด

ขั้วบวกแคโทดและตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด
( SEM )เพื่อเตรียมตัวอย่างภาพถ่าย SEM
ใช้เมียสอยู่ในไนโตรเจนเหลวประมาณ 10 นาที
แล้วแตกเป็นชิ้นเล็กๆ เขตปล่อย
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( fesem xl-30 feg-esem EFI , ,
. ) ใช้ทั้งการวัดและวิเคราะห์ SEM