Rietveld refinement of the diffract

Rietveld refinement of the diffraction patterns from (a) the AISI H13 bulk, (b) the layer at 22 μm depth. The insets show expanded views of the patterns between 62 and 87° (2θ).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การปรับแต่ง Rietveld ของรูปแบบการเลี้ยวเบนจาก (ก) กลุ่ม AISI H13 (ข) ชั้นที่ 22 ไมโครเมตรความลึก ขุ่นแสดงขยายมุมมองของรูปแบบระหว่าง 62 และ 87 ° (2θ)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ไรเ เวลโสรัจจะของรูปแบบการเลี้ยวเบนจาก ( 1 ) เกรด h13 เป็นกลุ่ม ( B ) ชั้น 22 μเมตร ความลึก การ insets แสดงขยายมุมมองของรูปแบบระหว่าง 62 และ 87 / ( 2

θ )