To measure dilational viscoelastici

To measure dilational viscoelasticity of the interfaces, sinusoidal
oscillations of the drops’ areas (Myrvold & Hansen, 1998) were
increased by volume amplitude of 0.5 mL (about 10% area amplitude)
at a frequency of 0.04 or 0.1 Hz. The resulting changes in
interfacial tension and interfacial area were collected and used to
calculate the dilational elastic modulus (E0) and phase angle
tangent (tan q) utilizing the DROPimage software. Drops were
suspended for 1–10 min before measurements. The E0 values
measured at 0.04 and 0.1 Hz are shown in Fig. 1. Increasing
frequency from 0.04 Hz to 0.1 Hz systematically shifts the interfacial
dilational modulus values to a higher level. All the following
measurements were conducted at a frequency of 0.1 Hz. Values
reported are the averages of a minimum of three replications. The E0
measured at 5 min were used for the calculations.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดวิ dilational อินเทอร์เฟซ ซายน์มีการแกว่งของหยดพื้นที่ (Myrvold & แฮนเซน 1998)เพิ่มขึ้น โดยคลื่นเสียงของ 0.5 mL (ประมาณ 10% พื้นที่คลื่น)ที่ความถี่ 0.1 เฮิรตซ์หรือ 0.04 การเปลี่ยนแปลงที่เกิดขึ้นในแรงตึงและแรงพื้นที่เก็บรวบรวม และใช้เพื่อคำนวณค่าโมดูลัสยืดหยุ่น dilational (E0) และมุมเฟสค่าแทนเจนต์ (tan q) โดยใช้ซอฟต์แวร์ DROPimage ลดลงได้หยุดชั่วคราวสำหรับ 1 – 10 นาทีก่อนการวัด ค่า E0วัดที่ 0.04 และ 0.1 Hz จะถูกแสดงในรูปที่ 1 เพิ่มขึ้นความถี่จาก 0.04 Hz ถึง 0.1 Hz กะ interfacial ที่เป็นระบบค่าโมดูลัส dilational ในระดับที่สูงขึ้น ทั้งหมดต่อไปนี้ได้ดำเนินการวัดที่ความถี่ของค่า 0.1 Hzรายงานเป็นค่าเฉลี่ยขั้นต่ำสามระยะ E0 ของวัดที่ 5 นาทีใช้สำหรับการคำนวณ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อวัด viscoelasticity dilational ของอินเตอร์เฟซซายน์
แนบแน่นของพื้นที่ที่หยด (Myrvold & แฮนเซน, 1998) ได้รับ
เพิ่มขึ้นจากความกว้างของปริมาณ 0.5 มิลลิลิตร (พื้นที่ประมาณ 10% กว้าง)
ที่ความถี่ 0.04 หรือ 0.1 เฮิร์ตซ์ ผลของการเปลี่ยนแปลง
ความตึงเครียด interfacial และพื้นที่ interfacial ถูกเก็บรวบรวมและใช้ในการ
คำนวณ dilational โมดูลัสยืดหยุ่น (E0) และมุมเฟส
สัมผัส (Tan Q) ใช้ซอฟต์แวร์ DROPimage หยดถูก
ระงับ 1-10 นาทีก่อนที่จะวัด ค่า E0
วัดที่ 0.04 และ 0.1 เฮิร์ตซ์จะแสดงในรูป 1. การเพิ่ม
ความถี่จาก 0.04 Hz ถึง 0.1 เฮิรตซ์ระบบเลื่อน interfacial
ค่าโมดูลัส dilational ระดับที่สูงขึ้น ทั้งหมดต่อไปนี้
วัดได้ดำเนินการที่ความถี่ 0.1 เฮิร์ตซ์ ค่า
รายงานเป็นค่าเฉลี่ยของอย่างน้อยสามซ้ำที่ E0
วัดที่ 5 นาทีถูกนำมาใช้สำหรับการคำนวณ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วัด viscoelasticity dilational ของอินเตอร์เฟซ ไซน์การสั่นของอนุภาค " พื้นที่ ( myrvold & แฮนเซน , 1998 ) ได้แก่เพิ่มขึ้น โดยปริมาณขนาด 0.5 ml ( ขนาดพื้นที่ประมาณ 10 % )ที่ความถี่ของ 0.04 หรือ 0.1 Hz . ทำให้เกิดการเปลี่ยนแปลงในความตึงเครียดระหว่างและพื้นที่ระหว่างการเก็บรวบรวมและใช้คำนวณค่าโมดูลัสยืดหยุ่น dilational ( E0 ) และมุมเฟสแทนเจนต์ ( Tan q ) ใช้ dropimage ซอฟต์แวร์ หยดพักงาน 1 – 10 นาทีก่อนการวัด ที่เข้ามาค่าวัดที่ 0.04 และ 0.1 Hz แสดงในรูปที่ 1 เพิ่มความถี่จาก 0.04 Hz 0.1 Hz กะผิวหน้าอย่างเป็นระบบdilational ัสค่าไปยังระดับที่สูงขึ้น ทั้งหมดต่อไปนี้การวัดความถี่ของจำนวนที่ 0.1 Hz . ค่ารายงานเป็นค่าเฉลี่ยของอย่างน้อยสามปี ที่เข้ามาวัดที่ 5 นาที ) เพื่อใช้ในการคำนวณ