In Fig. 6, the analysis with scanni

In Fig. 6, the analysis with scanning electron microscopy (SEM) show the details that are proper of the striae and it allows the comparison between replicas together their link to the same gun.

This technique does not, in principle, provides any additional information but reports, at very high magnification, the real morfological profile of striae and of some interesting details such
as major groove or the micro-periodicity within the features.

This is important to outline a strict and unmistakable profile to be associated and to dispel any reasonable doubt as incompatibility.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 6 วิเคราะห์ ด้วยการสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) แสดงรายละเอียดที่เหมาะสมของการ striae และจะช่วยให้การเปรียบเทียบระหว่างแบบจำลองร่วมกันการเชื่อมโยงไปยังปืนเดียวกันเทคนิคนี้ไม่ หลัก ให้ข้อมูลเพิ่มเติมใด ๆ แต่รายงาน ที่อัตราขยายสูงมาก โพ morfological จริง striae และสนใจรายละเอียดบางอย่างเช่นเป็นร่องใหญ่หรือไมโครประจำงวดภายในลักษณะการทำงาน ซึ่งเป็นสิ่งสำคัญเพื่อเค้าโปรไฟล์อย่างเข้มงวด และแน่แท้ ที่จะเชื่อมโยง และ การ dispel สงสัยที่สมเหตุสมผลเป็นความไม่เข้ากัน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในรูป 6 การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) แสดงรายละเอียดที่มีความเหมาะสมของ striae และจะช่วยให้การเปรียบเทียบระหว่างแบบจำลองร่วมกันการเชื่อมโยงไปยังปืนเดียวกัน. เทคนิคนี้ไม่ได้ในหลักการที่จะให้ข้อมูลใด ๆ เพิ่มเติม แต่รายงาน ที่กำลังขยายสูงมากรายละเอียด morfological ที่แท้จริงของ striae และรายละเอียดบางอย่างที่น่าสนใจดังกล่าวเป็นร่องที่สำคัญหรือช่วงไมโครภายในคุณสมบัติ. นี้เป็นสิ่งสำคัญที่จะร่างรายละเอียดที่เข้มงวดและชัดเจนที่จะเชื่อมโยงและเพื่อปัดเป่าข้อสงสัยใด ๆ ที่เป็นความไม่ลงรอยกัน .

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในรูปที่ 6 การวิเคราะห์ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) แสดงรายละเอียดที่เหมาะสมของรอยตัด และช่วยให้เปรียบเทียบระหว่างชำรุดด้วยกันการเชื่อมต่อกับปืนกระบอกเดียวกัน

เทคนิคนี้ไม่ได้ในหลักการ ให้ข้อมูลเพิ่มเติมใดๆ แต่รายงานที่ขยายสูงมาก ตัวจริง morfological โปรไฟล์ของ รอยตัดและรายละเอียดต่างๆ
บางอย่างที่น่าสนใจ