โดยจะเห็นว่าเมื่อมีการเติมคอปเปอร์ลงในซิงค์ออกไซด์ด้วยวิธีการต่างๆ ทั้งแบบขั้นตอนเดียวและ 2 ขั้นตอน ไม่ได้ทำให้รูปแบบการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ของซิงค์ออกไซด์เปลี่ยนแปลงไป อย่ำงไรก็ตำม
33
เมื่อเปรียบเทียบตัวอย่างที่ได้จากการเตรียมโดยขั้นตอนเดียวแต่ร้อยละของคอปเปอร์ที่เติมต่างกัน จากรูป 4.6 ก.) พบพีคที่ตำแหน่ง 35.52 และ 38.98 ซึ่งเป็นพีคของคอปเปอร์(II)ออกไซด์ (CuO) เป็นโครงสร้ำงผลึกแบบแบบเฟสเซนเตอร์ (face centered cubic) นั่นคือการสังเคราะห์โลหะผสมคอปเปอร์/ซิงค์ออกไซด์แบบขั้นตอนเดียวโดยวิธีไฮโดรเทอมัล คอปเปอร์ที่เกิดขึ้นจากการสังเคราะห์จะอยู่ในรูปของคอปเปอร์(II)ออกไซด์ ซึ่งจะพบพีคคอปเปอร์(II)ออกไซด์เมื่อมีร้อยละโดยโมลของคอปเปอร์ต่อซิงค์ออกไซด์ที่สูง แต่ถ้มีร้อยละโดยโมลของคอปเปอร์ต่อซิงค์ออกไซด์ต่ำ จะไม่ปรากฏพีคคอปเปอร์(II)ออกไซด์ ดังแสดงในภาพ 4.6 ค.) มีร้อยละโดยโมลของคอปเปอร์ต่อซิงค์ออกไซด์เท่ากับ 3 จึงไม่ปรากฏพีคคอปเปอร์(II)ออกไซด์ อาจเนื่องมาจากคอปเปอร์มีขนาดเล็กและมีการกระจายตัวสูง เมื่อมีปริมาณน้อยจึงไม่สามารถตรวจวัดได้ จากภาพ 4.6 ข.) พบพีคคอปเปอร์ที่ตำแหน่ง 43.2, 50.1 และ74.0 เป็นระนาบผลึกชนิด (111) (200) (220) ตำมลำดับ ซึ่งตรงกับรูปแบบการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ของอะตอมคอปเปอร์ที่มีโครงสร้างผลึกแบบแบบเฟสเซนเตอร์ (face centered cubic) นั่นคือการสังเคราะห์โลหะผสมคอปเปอร์/ซิงค์ออกไซด์แบบ 2 ขั้นตอนโดยวิธีสะสมทางเคมี คอปเปอร์ที่เกิดขึ้นจากการสังเคระห์จะอยู่ในรูปของคอปเปอร์(0) และคอปเปอร์(0) สามารถตรวจวัดได้แม้มีร้อยละโดยโมลของคอปเปอร์ต่อซิงค์ออกไซด์ต่ำ เนื่องมาจากคอปเปอร์(0) ที่เกิดขึ้นน่าจะมีขนาดใหญ่จึงสามารถตรวจวัดได้