Dark Grid Finger Defects:Annotated

Dark Grid Finger Defects:
Annotated with turquoise frame around defect areas
A cell breakage below the buss bar may cause a number of grid fingers and the cell region to be isolated
from the buss bar. This defect may be caused by excess mechanical stress during string soldering or
handling

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เข้มตารางนิ้วข้อบกพร่อง:ใส่ข้อมูลเสริม ด้วยกรอบสีฟ้าบริเวณพื้นที่ข้อบกพร่องความเสียหายของเซลล์ด้านล่างของแถบ buss อาจทำให้จำนวนของตารางนิ้วและพื้นที่เซลล์จะแยกจากแถบ buss ข้อบกพร่องนี้อาจเกิดจากความเครียดเชิงกลส่วนเกินระหว่างบัดกรีสายอักขระ หรือการจัดการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตารางนิ้วเข้มข้อบกพร่อง:
ข้อเขียนที่มีกรอบสีเขียวขุ่นบริเวณรอบ ๆ ข้อบกพร่อง
แตกเซลล์ด้านล่างแถบ Buss อาจทำให้จำนวนของนิ้วมือตารางและภูมิภาคเซลล์ที่จะถูกแยกออก
จากแถบบัส ข้อบกพร่องนี้อาจจะเกิดจากความเครียดเชิงกลส่วนเกินในช่วงสตริงบัดกรีหรือ
การจัดการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วันนี้คุณเดินทางเหนื่อยคุณนอนเถอะไม่ต้องเป็นห่วงฉัน