Scanning electron microscope (SEM)

Scanning electron microscope (SEM) images were measured with a Hitachi S4800. The Raman spectra were recorded using a confocal microprobe Raman system (LabRAM Aramis, Horiba Jobin Yivon). Raman spectra were excited at 532 nm from an air-cooled argon ion laser, with an integration time of 2 s.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกวัด ด้วย S4800 ฮิตาชิ แรมสเป็คตรารามันได้รับการบันทึกโดยใช้ microprobe confocal ระบบรามัน (อารามิส LabRAM, Horiba Jobin Yivon) แรมสเป็คตรารามันก็ตื่นเต้นที่ 532 nm จากเป็นอาร์กอน air-cooled ไอออนเลเซอร์ เป็นเวลารวม 2 s

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ภาพที่ถูกวัดกับ บริษัท ฮิตาชิ S4800 สเปกตรัมรามันถูกบันทึกไว้โดยใช้ confocal microprobe ระบบรามัน (Labram Aramis, Horiba Jobin Yivon) รามันสเปกตรัมมีความตื่นเต้นที่ 532 นาโนเมตรจากอาร์กอนอากาศเย็นไอออนเลเซอร์ที่มีเวลารวมตัวกันของ 2 วินาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภาพวัดกับบริษัท ฮิตาชิ s4800 . สเปกตรัมรามันถูกบันทึกไว้ใช้ด้วยระบบไมโครโพรบรามัน ( labram Aramis , horiba โจบิน yivon ) รามานสเปกตรัมตื่นเต้นที่ 532 nm จากอากาศอาร์กอนไอออนเลเซอร์ มีการรวมเวลา 2 วินาที