Scanningelectron microscopy (SEM) i

Scanning

electron microscopy (SEM) in the secondary mode was used to observe microstructure of processed bagasse

ash.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ในโหมดรองถูกใช้ในการสังเกตจุลภาคของชานอ้อยประมวลผลเถ้า

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด ( SEM ) ในโหมดรองถูกใช้เพื่อสังเกตโครงสร้างจุลภาคของแปรรูปชานอ้อยแอช