The dielectric properties of (1x)P

The dielectric properties of (1x)PZT–(x)PCN, where
x¼0:1{0:5, are illustrated in Fig. 3. At RT, with an
increase in the concentration of PCN, the dielectric constant
tends to increase because the transition temperature of the
PZT–PCN ceramics shift across RT; hence, the value of the
dielectric properties measured at RT increased, as shown in
Table II. Other authors have reported a similar behavior.
5)
The temperature dependence of the dielectric constant for
the compositions of the (1x)PZT–(x)PCN system show
broad dielectric peaks with an increase in the concentration
of PCN, which indicate a diffuse phase transition. The
diffuse phase transition may have been caused by a decrease
in grain size; the observed difference in the degree of
diffuseness could be a result of the grain size variation, as
shown in Table II,
21)
and chemical inhomogenieties within
the (1x)PZT–(x)PCN solid solution.
20)
(a) (b)
Fig. 1. XRD patterns of (1x)PZT–(x)PCN ceramics, wherex¼0:1{0:5.
Jpn. J. Appl. Phys., Vol. 47, No. 2 (2008) A. PRASATKHETRAGARNet al.
999

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

คุณสมบัติเป็นฉนวนของ (1 x) PZT – (x) PCN ที่x¼0:1 { 0:5 จะแสดงในรูปที่ 3 ที่ RT มีการเพิ่มความเข้มข้นของ PCN คงเป็นฉนวนมีแนวโน้มที่ เพิ่มขึ้นเนื่องจากอุณหภูมิเปลี่ยนแปลงของการกะเซรามิก PZT – PCN ผ่าน RT ดังนั้น ค่าของการเพิ่มคุณสมบัติเป็นฉนวนที่วัดได้ RT ดังที่แสดงในตารางที่สอง เขียนรายงานลักษณะคล้ายกัน5)อาศัยอุณหภูมิของคงเป็นฉนวนองค์ประกอบของงานระบบ PZT – (x) PCN (1 x)ยอดเขาที่เป็นฉนวนที่ดี ด้วยการเพิ่มความเข้มข้นของ PCN ซึ่งบ่งชี้ว่า มีการเปลี่ยนแปลงขั้นตอนการกระจาย การกระจายระยะเปลี่ยนผ่านอาจเกิดการลดลงเม็ดขนาด สังเกตความแตกต่างในระดับของdiffuseness จะเป็นผลของการเปลี่ยนแปลงขนาดของเกรนแสดงในตาราง II21)inhomogenieties เคมีภายในและแก้ไขปัญหาแข็ง PZT – (x) PCN (1 x)20)(ก) (ข)รูปที่ 1 รูปแบบการ XRD ของเซรามิก PZT – (x) PCN (1 x) wherex¼0:1 { 0:5อัล Jpn. J. ใช้กายภาพ ฉบับ 47 หมายเลข 2 (2008) A. PRASATKHETRAGARNet999

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

คุณสมบัติของอิเล็กทริก (1 x?) PZT- (x) PCN ที่
x¼0: 1 {0: 5 จะแสดงในรูปที่ 3. ที่ RT กับ
การเพิ่มขึ้นของความเข้มข้นของ PCN ที่ฉนวนคง
มีแนวโน้มที่จะเพิ่มขึ้นเนื่องจากการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิของ
เซรามิก PZT-PCN เปลี่ยนข้าม RT; ดังนั้นค่าของ
คุณสมบัติเป็นฉนวนที่วัด RT เพิ่มขึ้นดังแสดงใน
ตารางที่สอง เขียนคนอื่น ๆ ได้มีการรายงานพฤติกรรมที่คล้ายกัน.
5)
การพึ่งพาอาศัยอุณหภูมิของฉนวนคงที่สำหรับ
องค์ประกอบของ (1? x) PZT- (x) PCN ระบบแสดง
ยอดอิเล็กทริกในวงกว้างด้วยการเพิ่มความเข้มข้น
ของ PCN ซึ่งแสดงให้เห็นว่า เปลี่ยนเฟสกระจาย
เปลี่ยนเฟสกระจายอาจมีสาเหตุมาจากการลดลง
ในขนาดของเมล็ดข้าว; ความแตกต่างที่สังเกตได้ในระดับของ
diffuseness อาจเป็นผลของการเปลี่ยนแปลงขนาดของเมล็ดข้าวที่เป็น
แสดงในตารางที่ II,
21)
และ inhomogenieties เคมีภายใน
นี้ (1? x) PZT- (x) PCN สารละลายของแข็ง.
20)
(ก) (ข)
รูป 1. รูปแบบ XRD (1 x?) PZT- (x) เซรามิก PCN, wherex¼0: 1 {0: 5.
JPN เจ Appl สรวง. ฉบับ 47, ฉบับที่ 2 (2008) เอ PRASATKHETRAGARNet al.
999

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สมบัติไดอิเล็กทริกของ ( 1 ) PZT ) ( x ) Pay per click ที่x ¼ 1-0 { 0:5 , แสดงในรูปที่ 3 ที่ RT , ด้วยการเพิ่มความเข้มข้นของ PCN , สมบัติไดอิเล็กทริกที่คงที่มีแนวโน้มที่จะเพิ่มขึ้นเนื่องจากการเปลี่ยนแปลงของอุณหภูมิของวิธีเปลี่ยนผ่าน RT – PCN เซรามิก ดังนั้น คุณค่าของสมบัติไดอิเล็กทริกของวัดที่ส่งออกเพิ่มขึ้น ดังแสดงในตารางที่ 2 กรุงเทพฯได้รายงานพฤติกรรมที่คล้ายกัน5 )อุณหภูมิการพึ่งพาของค่าไดอิเล็กทริกสำหรับองค์ประกอบของวิธี ( 1 ) – ( X ) แสดงระบบ PCNกว้าง อิเล็กทริก ยอดกับการเพิ่มขึ้นของความเข้มข้นของ PCN ซึ่งบ่งชี้ถึงการเปลี่ยนวัฏภาคกระจาย . ที่กระจาย อาจเกิดจากการเปลี่ยนเฟสลดลงขนาดเมล็ดข้าว และความแตกต่างในระดับของการกระจัดกระจายอาจเป็นผลของขนาดของเกรน เช่นแสดงดังตารางที่ 221 .และเคมี inhomogenieties ภายใน( 1 ) – ( x ) ว่า PCN สารละลายของแข็ง20 )( ก ) ( ข )รูปที่ 1 วิเคราะห์รูปแบบ ( 1 ) PZT ) ( x ) PCN เซรามิก , wherex ¼ 1-0 { 0:5 .JPEG . เจ แอปเปิ้ล ว. . , ปีที่ 47 , ฉบับที่ 2 ( 2008 ) . prasatkhetragarnet อัล999