M–H hysteresis loops for ZnO films w

M–H hysteresis loops for ZnO films with various concentrations of Fe dopant were measured at 5, 100, 200 and 300 K using SQUID magnetometer. A magnetic field was applied parallel to the film surface and perpendicular to the c-axis of the ZnO crystal. The diamagnetic signal of the glass substrate was subtracted properly from the original data by using following equation:

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

m-H ลูป hysteresis สำหรับภาพยนตร์ ZNO ที่มีความเข้มข้นต่างๆของ fe สารเจือปนเป็นวัดที่ K 5, 100, 200 และ 300 โดยใช้ปลาหมึก magnetometer สนามแม่เหล็กถูกนำมาใช้คู่ขนานกับพื้นผิวของฟิล์มและตั้งฉากกับ C-axis ของ ZNO คริสตัล สัญญาณแม่เหล็กของพื้นผิวกระจกมาหักออกอย่างถูกต้องจากข้อมูลเดิมโดยใช้สมการต่อไปนี้:

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

M–H สัมผัสลูป สำหรับ films ZnO มีหลายความเข้มข้นของ Fe dopant ถูกวัดที่ 5, 100, 200 และ 300 K ใช้ magnetometer หมึก field แม่เหล็กใช้แบบขนาน film ผิว และตั้งฉากกับแกน c ของคริสตัล ZnO สัญญาณ diamagnetic ของพื้นผิวแก้วถูกลบได้อย่างถูกต้องจากข้อมูลเดิม โดยใช้สมการต่อไปนี้:

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กราวนด์ลูป hysteresis m - h สำหรับ films zno พร้อมด้วยความเข้มข้นต่างๆของ dopant แซนตาเฟเป็นวัดที่ 5100200 และ 300 K ใช้ magnetometer ปลาหมึก field ของแม่เหล็กที่ถูกนำไปใช้คู่ขนานไปกับพื้นผิว film และตั้งฉากกับ C - แกนของคริสตัล zno ได้ สัญญาณ diamagnetic ของผิวหน้ากระจกที่เป็นตัวตั้งอย่างถูกต้องจากข้อมูลเดิมโดยใช้สมการต่อไปนี้: