which were determined usingthe fixe

which were determined using
the fixed interference method (FIM) at 1.0×10−2 M concentration of foreign anions. The sensor responds
well to the surfactant ions in the presence of additives at lower concentration

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ซึ่งถูกกำหนดโดยใช้คงรบกวนวิธี (FIM) ที่ 1.0 × 10−2 M ความเข้มข้นของ anions ที่ต่างประเทศ ตอบการเซนเซอร์ด้วยการประจุ surfactant ในต่อหน้าของสารที่ความเข้มข้นต่ำกว่า

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ซึ่งได้รับการพิจารณาโดยใช้วิธีการแทรกแซงคงที่ (FIM) 1.0 × 10-2 M ความเข้มข้นของแอนไอออนต่างประเทศ เซ็นเซอร์ตอบสนองดีต่อการประจุลดแรงตึงผิวในการปรากฏตัวของสารที่มีความเข้มข้นต่ำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ซึ่งคำนวณโดยใช้วิธีแก้ไขสัญญาณรบกวน
( FIM ) × 10 − 2 M สำหรับความเข้มข้นของไอออนในต่างประเทศ เซนเซอร์ตอบสนอง
ดีไอออนสารลดแรงตึงผิวในการแสดงตนของวัตถุเจือปนที่ความเข้มข้นต่ำ