Congraturation to K.Puttisun Sittij

Congraturation to K.Puttisun Sittijindawong from PE/TE-BK for being selected as the grand prize winner of the Y2016 Logic Cost Leadership Contest.

The idea is to reduce test time for Leakage testing by sequential test of each pin, able to do gang test by combine multiple pins into one single test. Only in case of failure found, will do serial test to detect what pin fail leakage.

This technique can be applied into every logic test programs and improves throughput by reducing test time and no investment needs.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Congraturation เพื่อ K.Puttisun Sittijindawong จาก PE/TE-BK สำหรับการเลือกเป็นรางวัลชนะเลิศของการแข่งขันเป็นผู้นำต้นทุนตรรกะ Y2016ความคิดที่จะ ลดเวลาในการทดสอบสำหรับการรั่วไหลของการทดสอบ โดยทดสอบตามลำดับของแต่ละ pin ทำแก๊งสามารถทดสอบ โดยรวมหลายขาเข้าทดสอบหนึ่งเดียว เฉพาะในกรณีที่พบความล้มเหลว จะทำทดสอบอนุกรมเพื่อตรวจหา pin ใดล้มเหลวรั่วเทคนิคนี้สามารถใช้ได้ในทุกโปรแกรมทดสอบตรรกะ และช่วยเพิ่มอัตราความเร็ว โดยการลดเวลาในการทดสอบและไม่ต้องลงทุน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

Congraturation เพื่อ K.Puttisun Sittijindawong จาก PE / TE-BK สำหรับการถูกเลือกให้เป็นผู้ชนะรางวัลแกรนด์ของค่าใช้จ่าย Y2016 ลอจิกการประกวดเป็นผู้นำ. มีแนวคิดที่จะลดเวลาในการทดสอบสำหรับการทดสอบการรั่วไหลโดยการทดสอบตามลำดับของแต่ละ pin, ความสามารถในการทำแบบทดสอบแก๊ง โดยรวมหลายหมุดเข้าสู่การทดสอบหนึ่งเดียว เฉพาะในกรณีของความล้มเหลวที่พบจะทำแบบทดสอบอนุกรมในการตรวจสอบสิ่งที่พินล้มเหลวรั่วไหล. เทคนิคนี้สามารถนำไปใช้ลงในทุกโปรแกรมการทดสอบตรรกะและช่วยเพิ่มการส่งผ่านโดยการลดเวลาการทดสอบและไม่มีการตอบสนองความต้องการการลงทุน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

congraturation K . puttisun sittijindawong จาก PE / te-bk สำหรับการเลือกเป็นผู้ชนะรางวัลใหญ่ของ y2016 ตรรกะผู้นําต้นทุนการแข่งขันความคิดคือการลดเวลาการทดสอบสำหรับการทดสอบการรั่วซึม โดยทดสอบตามลําดับของแต่ละขา สามารถทำแบบทดสอบแก๊งโดยรวมหลาย ๆเดียวหมุดเข้าไปในการทดสอบ แต่ในกรณีของความล้มเหลวที่พบจะทำแบบทดสอบอนุกรมการตรวจสอบว่าขาขาดรั่วเทคนิคนี้สามารถใช้เป็นทุกโปรแกรมทดสอบตรรกะและปรับปรุง throughput โดยการลดเวลาการทดสอบและไม่มีความต้องการการลงทุน