Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was used to
determine the silica dispersion in the NR matrix. Fig. 10
provides the SEM micrographs of the tensile fractured
surfaces of the silica-filled NR vulcanisates with and
without the addition of ALK: (A) A/0.0; (B) C/3.0; (C) D/5.0;
and (D) E/7.0 at 300 magnification

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) ถูกใช้ในการกำหนดกระจายตัวซิลิก้าในเมตริกซ์ NR Fig. 10ให้ micrographs SEM ของแรงดึง fracturedพื้นผิวของ vulcanisates NR เติมซิลิกากับ และโดยไม่มีการเพิ่มของ ALK: A (A) / 0.0 (ข) C/3.0 (C) D/5.0และ E/7.0 (D) ในอัตราส่วน 300

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM)
ถูกใช้ในการตรวจสอบการกระจายตัวของซิลิกาในเมทริกซ์NR มะเดื่อ. 10
ให้ไมโคร SEM
ของร้าวแรงดึงพื้นผิวของซิลิกาที่เต็มไปด้วยvulcanisates NR
ที่มีและโดยไม่มีการเติมALK นี้: (A) A / 0.0; (B) C / 3.0; (C) D / 5.0;
และ (D) E / 7.0 ที่ 300? การขยายภาพ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ถูกใช้เพื่อตรวจสอบการกระจาย
ซิลิกาในยางธรรมชาติเมทริกซ์ รูปที่ 10
ให้ SEM micrographs ของแรงดึงผิวของซิลิกาเติมยางหัก

vulcanisates และโดยไม่ต้องนอกเหนือจาก alk : ( ก ) / 0.0 ; ( b ) C / 3.0 ; ( c ) D / 5.0 ;
( D ) E / 7.0 ที่อุณหภูมิ 300  แว่นขยาย