The film samples were cut into smal

The film samples were cut into small pieces and then mounted on a cylindrical aluminum specimen holder and examined using a Field Emission Scanning Electron Microscopy (FE-SEM, S-4800, Hitachi Co., Ltd., Matsuda, Japan) with an accelerating voltageof 5.0 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตัวอย่างฟิล์มถูกตัดเป็นชิ้นเล็ก ๆ แล้วติดที่ใส่ชิ้นงานกระบอกอลูมิเนียม และตรวจสอบโดยใช้การการปล่อยแกนชาวดัตช์ (FE SEM, S-4800 ฮิตาชิ Co., Ltd. มัทสึดะ ญี่ปุ่น) กับการ voltageof เร่ง 5.0 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างภาพยนตร์เรื่องนี้ถูกตัดเป็นชิ้นเล็ก ๆ แล้วติดตั้งอยู่บนที่วางอลูมิเนียมชิ้นงานรูปทรงกระบอกและตรวจสอบการใช้สนาม Emission กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM S-4800 ฮิตาชิ จำกัด Matsuda, ญี่ปุ่น) กับ voltageof เร่ง 5.0 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ภาพยนตร์ตัวอย่างถูกหั่นเป็นชิ้นเล็ก ๆติดแล้วในกระบอกอลูมิเนียม ตัวยึด และตรวจสอบการใช้สนามจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fe-sem s-4800 , ฮิตาชิ , กัดดะ , ญี่ปุ่น ) ด้วยการเร่ง voltageof 5.0 กิโล .