The Augeranalysis results showed no

The Auger
analysis results showed no significant evidence of diffusion of Cu
atoms into the GaAs layer or Ge substrates.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ชอนผลการวิเคราะห์พบว่าไม่มีหลักฐานสำคัญของการแพร่ของ Cuอะตอมในชั้น GaAs หรือพื้นผิวของ Ge

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สว่านผลการวิเคราะห์แสดงให้เห็นว่าไม่มีหลักฐานที่สำคัญของการแพร่กระจายของ Cu อะตอมเข้าไปในชั้น GaAs หรือพื้นผิวที่จีอี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลวิเคราะห์ไม่พบ Auger
สำคัญของการแพร่กระจายของซียู
อะตอมในชั้นแกลเลียมอาร์เซไนด์หรือ GE ท