2.5.2. X-ray diffractionThe starch

2.5.2. X-ray diffraction
The starch samples were oven-dried at 50 C overnight and pulverized
to a particle size < 63 lm. X-ray diffraction analysis was
performed in an X-ray diffractometer (X’Pert PRO, Panalytical,
Netherlands) operated at 40 kV and 200 mA. Diffractograms were
obtained from 3 2h to 60 2h with a scanning speed of 8/min
and scanning step of 0.02.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.5.2 X-ray diffraction
ตัวอย่างแป้งถูกเตาอบแห้งที่ 50? C
ในชั่วข้ามคืนและบดให้มีขนาดอนุภาค<63 ไมครอน การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ได้รับการดำเนินการในมาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (X'Pert PRO, Panalytical, เนเธอร์แลนด์) ดำเนินการที่ 40 กิโลโวลต์และ 200 มิลลิแอมป์ diffractograms ถูกที่ได้จาก3 หรือไม่? 2H 60? 2H ที่มีความเร็วในการสแกน 8? / นาทีและขั้นตอนการสแกน0.02 ?.

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

งานวาง . การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์
แป้งเตาอบแห้งจำนวน 50  C ค้างคืนและบดให้มีขนาดอนุภาค <
63 อิม การวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์คือการเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ (

panalytical x'pert Pro , เนเธอร์แลนด์ ) ดำเนินการ 40 kV และ MA 200 diffractograms ถูก
ที่ได้จาก 3  2H ถึง 60  2h กับความเร็วในการสแกนของ 8  / min
และการสแกนขั้น 0.02  .