Figure 19. SEM of a scanning gate p

Figure 19. SEM of a scanning gate probe.
The large tip is the probe for a scanning tunneling microscope, and the smaller is a gate that allows sharper imaging of the sample. Instruments such as these can be used to analyze nanomaterials. (Image courtesy of Prof. Leo Kouwehnhoven, Delft University of Technology. Reprinted with permission from Gurevich, L., et al., 2000) (Copyright 2000, American Institute of Physics.)
3.5 Human Exposures and Their Measurement and Control
As the

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 19. SEM ของสอบสวนสแกนประตู
ขนาดใหญ่ที่ปลายหัววัดสำหรับกล้องจุลทรรศน์อุโมงค์และมีขนาดเล็กเป็นประตูที่ช่วยให้การถ่ายภาพที่คมชัดของตัวอย่าง เช่นเครื่องมือเหล่านี้สามารถใช้ในการวิเคราะห์วัสดุนาโน (การอนุเคราะห์จากศ. ลีโอ Kouwehnhoven, Delft University of Technology. พิมพ์ซ้ำได้รับอนุญาตจากซค์, L. , et al., 2000) (ลิขสิทธิ์ 2000 อเมริกันสถาบันฟิสิกส์.)
3.5 มนุษย์เสี่ยงและการวัดและการควบคุมของพวกเขา
ในฐานะที่เป็น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 17 SEM ของประตูสแกนตรวจสอบ .
ปลายขนาดใหญ่เป็นโพรบสำหรับกล้องจุลทรรศน์การขุดอุโมงค์ และขนาดเล็กเป็นประตูที่ช่วยให้ภาพที่คมชัดของตัวอย่าง เช่นเครื่องมือเหล่านี้สามารถใช้เพื่อวิเคราะห์ nanomaterials . รูปภาพของ ลีโอ ( มารยาท kouwehnhoven เดลฟต์ , มหาวิทยาลัยเทคโนโลยี พิมพ์โดยได้รับอนุญาตจากกุเรวิช , L . , et al . , 2000 ) ( ลิขสิทธิ์ 2000สถาบันฟิสิกส์อเมริกัน )
3 มนุษย์ เปิดรับและการวัดและควบคุม
เป็น