(TMAþ) cations occluded within the

(TMAþ) cations occluded within the framework supercages, leaving only completely trapped TMAþ ions entrapped within the primary building units of zeolite. The pore-opened NaY zeolite nanoparticles obtained from the replacement of the TMAþ counter-ions with Naþ were used for all subsequent experiments. The zeolite framework structure and crystallinity were characterized by X-ray powder diffraction (XRD, X'Pert PRO diffractometer using Cu Kα radiation). The zeolite samples were dried overnight at 80 1C and ground into powder form before XRD testing. The particle diameter was determined by dynamic light scattering (DLS, Zetasizer 3000HSA, Malvern Instrument). The measurements were carried out using dilute aqueous colloidal suspensions of the synthesized zeolite product. The weight loading of the suspension was on the order of 0.01 wt% and was clear to the naked eye. Morphological characterization of zeolite nanoparticles was carried out using scanning electron microscopy (SEM, ULTRA 55, Carl Zeiss). Samples were prepared on silicon wafers and sputter-coated with gold. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS, Escalab 250Xi, Thermo Scientific) was used to determine the elemental composition and the Si/Al ratio of zeolite nanoparticles.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

แคทไอออน (TMAþ) occluded supercages กรอบ เพียง TMAþ ไอออนติดสมบูรณ์เก็บกักภายในหน่วยอาคารหลักของซีโอไลต์ออกจากภายใน การเปิดรูขุมขนเน zeolite เก็บกักได้จากการแทนที่ของไอออนเคาน์เตอร์ TMAþ กับ Naþ ถูกใช้สำหรับการทดลองในเวลาต่อมาทั้งหมด โครงสร้างกรอบของผงถ่านกัมมันต์และผลึกมีลักษณะกระจายผงรังสีเอ็กซ์ (XRD, diffractometer X'Pert PRO ใช้ Cu Kα รังสี) ตัวอย่างผงถ่านกัมมันต์แห้งที่ 80 1C และบดเป็นผงก่อนที่จะทดสอบ XRD มีกำหนดเส้นผ่านศูนย์กลางอนุภาค โดยแสงแบบไดนามิก scattering (DLS, Zetasizer 3000HSA เครื่องมือมัลเวิร์น) การวัดที่ได้ดำเนินการใช้ระบบกันสะเทือน colloidal สารละลายเจือจางของผลิตภัณฑ์สังเคราะห์ซีโอไลต์ โหลดน้ำหนักของช่วงล่างแก้ไขระหว่าง 0.01 wt % และตาเปล่าชัดเจน ลักษณะสัณฐานของผงถ่านกัมมันต์เก็บกักถูกดำเนินโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM, ULTRA 55, Carl Zeiss) ตัวอย่างเมื่อซิลิคอนเวเฟอร์ และ sputter เคลือบ ด้วยทอง X-ray photoelectron สเปกโทรสโก (XPS, Escalab 250Xi เทอร์โม Scientific) ถูกใช้เพื่อกำหนดองค์ประกอบธาตุและอัตราส่วนของผงถ่านกัมมันต์เก็บกัก Si/Al

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

(TMAþ) ไพเพอร์โดนภายใน supercages กรอบเหลือเพียงติดอยู่สมบูรณ์ไอออนTMAþกักภายในหน่วยอาคารหลักของซีโอไลท์ รูขุมขนเปิด Nay อนุภาคนาโนซีโอไลต์ที่ได้รับจากการเปลี่ยนTMAþเคาน์เตอร์ไอออนกับภูมิพลอดุลยเดชถูกนำมาใช้สำหรับการทดลองที่ตามมาทั้งหมด โครงสร้างกรอบซีโอไลต์และผลึกโดดเด่นด้วย X-ray เลนส์ผง (XRD, X'Pert PRO diffractometer ใช้ Cu Kαรังสี) กลุ่มตัวอย่างที่ใช้ซีโอไลท์แห้งค้างคืนที่ 80 1C และบดเป็นผงก่อนการทดสอบ XRD เส้นผ่าศูนย์กลางอนุภาคถูกกำหนดโดยการกระเจิงของแสงแบบไดนามิก (DLS, Zetasizer 3000HSA เวิร์นตราสาร) การวัดที่ถูกนำออกมาใช้เจือจางสารแขวนลอยในน้ำของผลิตภัณฑ์ซีโอไลต์สังเคราะห์ โหลดน้ำหนักของการระงับการสั่งซื้อเป็น 0.01% โดยน้ำหนักและเป็นที่ชัดเจนด้วยตาเปล่า ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาคนาโนซีโอไลท์ได้รับการดำเนินการโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM พิเศษ 55, Carl Zeiss) ตัวอย่างที่ถูกจัดทำขึ้นในซิลิคอนเวเฟอร์และพ่นเคลือบด้วยทองคำ เอ็กซ์เรย์โฟโตอิเล็กตรอนสเปกโทรสโก (XPS, Escalab 250Xi, เทอร์โม scienti Fi c) ถูกใช้ในการตรวจสอบธาตุองค์ประกอบและอัตราส่วน Si / Al ของอนุภาคนาโนซีโอไลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

( TMA þ ) แคต occluded ภายในกรอบ supercages เหลือเพียงสมบูรณ์ติด TMA þไอออนกักภายในอาคารหลักหน่วยของซีโอไลต์ . รูขุมขนเปิด " นาโนซีโอไลต์ที่ได้จากการแทนที่ของ TMA þเคาน์เตอร์ไอออนด้วยนา þถูกใช้สำหรับการทดลองที่ตามมาทั้งหมด กรอบโครงสร้างของผลึกซีโอไลต์และมีลักษณะโดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD , ผง x"pert โปรดิฟแฟรกโทมิเตอร์โดยใช้ Cu K αรังสี ) ซีโอไลต์จำนวนค้างคืนที่ 80 c และพื้นดินในรูปแบบผงก่อนการทดสอบ XRD แห้ง อนุภาคขนาดโดยกำหนดแบบไดนามิก การกระจายแสง ( dls เซตาไซเซอร์ , 3000hsa เวิร์น , เครื่องมือ ) วัดได้โดยใช้สารละลายเจือจางของคอลลอยด์แขวนลอย ซีโอไลท์สังเคราะห์ผลิตภัณฑ์ น้ำหนักบรรทุกถูกระงับในการสั่งซื้อของ 0.01 เปอร์เซ็นต์โดยน้ำหนักและชัดเจนด้วยตาเปล่า การจำแนกลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาคนาโนซีโอไลต์ได้โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM , อัลตร้า 55 , Carl Zeiss ) ตัวอย่างที่เตรียมไว้บนซิลิคอนเวเฟอร์เคลือบ และละล่ำละลักด้วยทองคำ เครื่อง X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS escalab 250xi , เทอร์โม scienti จึง C ) ศึกษาองค์ประกอบธาตุและ Si / Al เท่ากับนาโนซีโอไลต์ .