Some defects were formed in diamond

Some defects were formed in diamond single crystals grown from an Fe-Ni-C system at high temperature high pressure (HPHT). These defects were successfully examined by transmission electron microscopy (TEM) and a kind of indirect lattice image called moiré fringe. These defects are mainly composed of vacancy-type prismatic dislocation loops, stacking-fault tetrahedra, an array of parallel dislocation lines, and dislocation networks. The formation process of these defects was analyzed briefly. It was suggested that these defects in the diamond crystal were derived from vacancies and inclusions, which were contained in the diamond single crystal during the diamond synthesis at high temperature and high pressure.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อบกพร่องบางอย่างได้เกิดขึ้นในผลึกเพชรเดียวที่พัฒนาจากระบบ Fe-Ni-C ที่ความดันสูงอุณหภูมิสูง (HPHT) มีการตรวจสอบข้อบกพร่องเหล่านี้ได้สำเร็จส่งอิเล็กตรอน microscopy (ยการ) และชนิดของโครงตาข่ายทางอ้อมประกอบรูปลวดเรียกว่าสวัสดิการ ข้อบกพร่องเหล่านี้ส่วนใหญ่จะประกอบด้วยตำแหน่งว่างชนิดเคลื่อน prismatic มีขั้นตอนลูป tetrahedra บกพร่องซ้อน เคลื่อนขนานบรรทัด และเครือข่ายเคลื่อนกัน การก่อตัวของข้อบกพร่องเหล่านี้ถูกวิเคราะห์สั้น ๆ เขาแนะนำว่า ข้อบกพร่องเหล่านี้ในไดมอนด์ได้มาจากตำแหน่งและรวม ซึ่งมีอยู่ในเพชรเดียวระหว่างการสังเคราะห์เพชรที่อุณหภูมิสูงและความดันสูง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ข้อบกพร่องบางอย่างที่เกิดขึ้นในผลึกเดี่ยวเพชรเติบโตขึ้นจากระบบเฟ-Ni-C ที่อุณหภูมิสูงความดันสูง (HPHT) ข้อบกพร่องเหล่านี้ได้รับการตรวจสอบประสบความสำเร็จโดยการส่งผ่านกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) และชนิดของภาพตาข่ายทางอ้อมที่เรียกว่าขอบmoiré ข้อบกพร่องเหล่านี้จะประกอบด้วยส่วนใหญ่ของว่างชนิดลูปคลาดเคลื่อนเหลี่ยม, tetrahedra ซ้อนผิดอาร์เรย์ของสายการเคลื่อนที่แบบขนานและเครือข่ายเคลื่อนที่ กระบวนการก่อตัวของข้อบกพร่องเหล่านี้ได้รับการวิเคราะห์ในเวลาสั้น ๆ มันก็ชี้ให้เห็นว่าข้อบกพร่องเหล่านี้ในคริสตัลเพชรได้มาจากตำแหน่งงานว่างและรวมซึ่งถูกบรรจุอยู่ในเพชรผลึกเดี่ยวในระหว่างการสังเคราะห์เพชรที่อุณหภูมิสูงและความดันสูง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

在一些缺陷是形成一个单crystals diamond生长温度从高Fe-Ni-C系统在高压力（HPHT）。缺陷是由These examined成功传输电子显微镜（TEM）和一种间接格的图像被fringe纹是主要的缺陷。These composed vacancy-type dislocation循环，stacking-fault，棱柱四面体一个平行的线阵列，和dislocation dislocation网络形成过程。这些缺陷是：简要地分析了。这是suggested这些缺陷是在diamond水晶是从vacancies衍生，它是contained和夹杂物。在diamond单晶体在高要diamond synthesis温度和高压力。