The static, advancing (θa), and rec

The static, advancing (θa), and receding (θr) water contact angles of the PFTS-functionalized SAMs on silicon substrates, and the dip-coated and convectively assembled nanoparticle films were measured before and after chemical vapor deposition of PFTS (Table 1).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สถิตย์ ความก้าวหน้า (θa), และเหตุน้ำ (θr) ติดต่อมุมของ SAMs PFTS functionalized บนพื้นผิวซิลิกอน และฟิล์มจุ่มเคลือบ และ convectively ประกอบ nanoparticle ที่วัดก่อน และ หลังการสะสมไอสารเคมีของ PFTS (ตารางที่ 1)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

คงที่ก้าวหน้า (θa) และถอย (θr) มุมสัมผัสของน้ำ PFTS-ฟังก์ชัน SAMs บนพื้นผิวซิลิกอนและภาพยนตร์จุ่มเคลือบและอนุภาคนาโนประกอบ convectively ถูกวัดก่อนและหลังการไอสารเคมีสะสมของ PFTS (ตารางที่ 1) .

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

คงก้าวหน้า ( θ ) และอินเดีย ( θ R ) น้ำติดต่อมุมของ pfts แซมในซิลิคอนที่มีพื้นผิวและจุ่มเคลือบและ convectively ประกอบสำหรับภาพยนตร์ที่ถูกวัดก่อน และหลังการสะสมของไอสารเคมี pfts ( ตารางที่ 1 )